ГОСТ Р 56983—2016
2)Устанавливают датчики измерения температуры испытуемого образца и датчики измерения
температуры всех шунтирующих диодов или одновременно испытуемых диодов (см. этап 5).
П р и м е ч а н и е 1— Если измерение температур проводят бесконтактным способом, например с помощью
ИК камеры, установка датчиков температуры не требуется.
П р и м е ч а н и е 2 — Датчики устанавливают на ту часть шунтирующего диода, тепловое сопротивление
между которой и переходом указано изготовителем в сопроводительной документации или может быть найдено по
типу диода (как правило, это корпус диода).
П р и м е ч а н и е
3 — Одновременно могут быть установлены датчики температуры блокирующих диодов.
4 — Если используется замещающий образец, датчики могут быть установлены при его
П р и м е ч а н и е
изготовлении.
3) Устанавливают средства нагрева испытуемого образца.
4) Подключают приборы для измерения температуры шунтирующих диодов и температуры ис
пытуемого образца.
5) Подключают положительный выход источника питания постоянного тока к отрицательным выво
дам испытуемого образца и отрицательный выход источника питания постоянного тока к положительным
выводам испытуемого образца с использованием проводов минимального сечения из рекомендованного
изготовителем диапазона. Вводы в коммутационную коробку должны быть выполнены в соответствии с
рекомендациями изготовителя, после чего она должна быть закрыта. При такой схеме соединений ток
будет протекать через фотоэлектрические элементы в обратном направлении, а через диод— в прямом.
Во время испытаний через каждый шунтирующий диод, участвующий в испытаниях, должен про
текать ток, равный току, подаваемому на испытуемый образец. Если в испытуемом образце установле но
несколько шунтирующих диодов, для обеспечения указанного условия может потребоваться уста новка
перемычки(чек) или переключателя.
П р и м е ч а н и е — Как правило, это условие соблюдается, если ток протекает только через один шунтиру
ющий диод.
6) Подключают приборы для измерения тока.
7) Нагревают испытуемый образецдо температуры (75 ± 5) °С и поддерживают ее на этом уровне
в течение всего времени испытаний. В течение 1 ч подают на испытуемый образец ток, равный току
короткого замыкания испытуемого образца, измеренному при СУИК. ±2 %. Через 1 ч измеряют темпе
ратуру каждого шунтирующего диода, принимающего участие в испытаниях.
8) Определяют тепловое сопротивление и максимальную допустимую температуру перехода шун-
тирующих/блокирующих диодов по сопроводительной документации или типу диодов. По измеренной
температуре корпуса либо другой части диодов, на которую установлены датчики (см. примечание 2
этапа 2), рассчитывают температуру перехода каждого шунтирующего диода, участвовавшего в этапах
испытаний 5)-7). с помощью следующего выражения:
где
Ъ’ер
^0 пер кор
"Р
’пр
Я,
I
.
т
пер
=Т
кор
+
бпер г.ор
и
пр пр*
(4)
— температура перехода диода;
— измеренная температура корпуса диода;
— указанное изготовителем значение теплового сопротивления переход-корпус;
— постоянное прямое напряжение диода при / ;
— постоянный прямой ток диода. /пр равен подаваемому на испытуемый образец току
(току короткого замыкания испытуемого образца, измеренному при СУИК ±2 %).
П р и м е ч а н и е — Если в испытуемом образце установлен радиатор теплоотвода, специально пред
назначенный для снижения рабочей температуры диода(ов), испытания могут быть проведены не при 75 "С. а
при температуре, которой достигает радиатор теплоотвода при 1000 Вт/м2. температуре окружающей его
среды (43 ± 3) "С и отсутствии ветра.
Рассчитанная температура перехода шунтирующего диода не должна превышать заданную из
готовителем максимальную допустимую температуру перехода. Если это условие выполняется, пере
ходят к следующему этапу испытаний.
9)Увеличивают подаваемый на испытуемый образец ток до значения, превышающего в 1.25 раза
ток короткого замыкания испытуемого образца, измеренный при СУИК. Поддерживают значение тока
на указанном уровне и температуру испытуемого образца на уровне (75 ± 5) °С в течение 1ч.
28