ГОСТ Р 56983—2016
- сопротивление изоляции отвечает требованиям 10.4;
- после проведения испытания внутри испытуемого образца не осталось значительного объема
воды (глубина воды должна быть недостаточной для достижения электрически активных частей в лю
бом возможном положении).
10.11 Испытания шунтирующих/блокирующих диодов на термостойкость
10.11.1 Цель
Проверка теплового расчета испытуемого фотоэлектрического устройства с концентратором и на
дежности шунтирующего/блокирующего диода(ов) при высокой температуре, возникающей в процессе
выполнения шунтирующим/блокирующим диодом защитных функций.
10.11.2 Образец для проведения испытаний
Если шунтирующий/блокирующий диод(ы) в испытуемом образце недоступен(ны). для испытаний
может быть необходимо изготовление специального замещающего образца. Данный образец должен
быть изготовлен таким образом, чтобы обеспечить те же температурные условия при испытаниях, что и
в обычном испытуемом образце, и необязательно должен быть рабочим. Он должен обеспечивать
возможность измерять во время испытаний температуру той части шунтирующих/блокирующихдиодов,
тепловое сопротивление между которой и переходом диода указано изготовителем в сопроводитель
ной документации или может быть найдено по типу диода (как правило, это корпус диода и тепловое
сопротивление переход-корпус). Так же замещающий образец должен обеспечивать возможность уста
навливать перемычки или переключатели, если они требуются.
Если измерение температуры шунтирующего/блокирующего диода будет проводиться с помощью
датчика температуры, провода датчика температуры должны иметь малую теплоемкость и быть под
ключены таким образом, чтобы как можно меньше влиять на диод и его тепловое окружение. Датчик
температуры может быть установлен на соответствующей части шунтирующего/блокирующего диода
при изготовлении замещающего образца.
Данный замещающий образец должен использоваться только для испытаний шунтирующих/бло
кирующих диодов на термостойкость и не должен принимать участив во всех остальных испытаниях.
Испытания с использованием указанного замещающего образца называются испытаниями тер
мостойкости с вмешательством в узел шунтирующего/блокирующего диода, в противном случае — это
испытания без вмешательства в этот узел.
10.11.3 Испытательное оборудование
Для проведения испытаний требуется следующее оборудование;
a) источник постоянного тока, обеспечивающий ток. не менее чем в 1.25 раза превышающий ток
короткого замыкания данного испытуемого образца при СУИК;
b
) средства измерения и регистрации тока, протекающего через испытуемый образец с погреш
ностью не более ±0.5;
c) средства нагрева испытуемого образца до температуры (75 ± 5) еС;
d) средства измерения и регистрации температуры испытуемого образца с точностью ±1 °С;
e) средства измерения и регистрации температуры шунтирующих/блокирующих диодов, постав
ляемых вместе с испытуемым модулем. Следует принять моры по минимизации возможного изменения
каких-либо характеристик шунтирующих/блокирующих диодов или путей теплоотвода при установке
средств измерения температуры;
П р и м е ч а н и е 1 — Для измерения и регистрации температуры шунтирующих/блокирующих диодов может
использоваться ИК камера.
П р и м е ч а н и е 2 — Под температурой диода имеется в виду температура той части диода, тепловое со
противление между которой и переходом указано изготовителем в сопроводительной документации или может
быть найдено по типу диода (как правило, эго корпус диода).
П р и м е ч а н и е 3 — Если используется замещающий образец, средства измерения температуры диода(ов)
могут быть установлены при изготовлении замещающего образца (см. 10.11.2).
f) средства измерения и регистрации напряжения с погрешностью не более ±0.5.
10.11.4 Проведение испытаний
Испытания должны проводиться при температуре испытуемого образца (75 ± 5) °С. Во время ис
пытаний образец не должен подвергаться освещению.
1) Замыкают все блокирующие диоды, если они установлены в испытуемом образце.
27