ГОСТ Р 53195.3—2015
Анализ, используемый для вычисления охвата диагностикой и доли безопасных отказов, должен включать
все компоненты, в том числе электрические, электронные, электромеханические, механические и т. п.. которые
используются в подсистеме для выполнения функции(ий) безопасности, реализуемых
Е/Е/РЕ
СБЗС-системой.
Для каждого из компонентов должны быть рассмотрены все возможные виды опасных отказов, которые приводят
к опасномусостоянию, ограничиваядиапазон безопасности, когдатакойдиапазон установлен или.иными словами,
ставит под угрозу полноту безопасности
Е/Е/РЕ
СБЗС-системы.
В таблице А.1 приведены ошибки и отказы, которые как минимум должны быть обнаружены для достижения
необходимого охвата диагностикой или которые как минимум должны быть включены в определение безопасной
составляющей отказа.
Если для анализа видов отказов и анализа влияния используются эксплуатационные данные, то их должно
быть достаточно для анализа требования полноты безопасности. При этом требуемый нижний предел статисти
ческой односторонней достоверности должен быть не менее 70 %.
В.2 Определение факторов охвата диагностикой
При вычислении охвата диагностикой для подсистемы {см. В.1) для каждого компонента или группы
компонентов необходимо оценить долю опасных отказов, которые обнаруживаются диагностическими тестами.
Диагностические тесты, которые могут внести вклад в диагностический охват, включают в себя, но не ограничи
ваются такими мерами как.
- осуществление сравнительных проверок, например, контроля и сравнения избыточных (резервных)
сигналов.
- применение дополнительных встроенных тестовых программ, например, осуществляющих вычисление
контрольных сумм вустройстве памяти;
- проведение контроля с помощью внешних воздействий, например, путем пропускания импульсного
сигнала через контролируемые тракты;
- осуществление непрерывного контроля аналогового сигнала, например, для обнаружения выхода за
допустимые пределы уровней показаний сенсора.
Для вычисления охвата диагностикой необходимо определить виды отказов, которые обнаруживаются
диагностическими тестами. Для простейших компонентов {резисторов, конденсаторов, транзисторов) отказы,
связанные с разомкнутыми или короткозамкнутыми целями, могут быть с большой степенью вероятности обна
ружены путем стопроцентного охвата диагностикой. Однако для более сложных компонентов типа Б (см. 5.18.1.3)
должны быть учтены ограничения охвата диагностикой для различных компонентов, указанных в таблице А.1
(приложение А). Этот анализ должен быть выполнен для каждого компонента или группы компонентов каждой
подсистемы и для каждой
Е/Е/РЕ
СБЗС-системы.
П р и м е ч а н и я
1 В таблицах А.2—А.15 (приложение А) приведены рекомендуемые методы/средства. применяемые для
диагностических проверок, и рекомендуемые максимальные охваты диагностикой, которые могут потребоваться.
Эти проверки могут проводиться непрерывно или периодически (в зависимости от интервала диагностических
проверок). Таблицы не заменяют ни одно из требований настоящего приложения.
2 Диагностическое тестирование может обеспечить значительные выгоды в достижении функциональной
безопасности
Е/Е/РЕ
СБЗС-систем. Однако, следует избегать излишнего увеличения сложности, которое может
привести к увеличению трудностей при осуществлении действий по проверке, подтверждению соответствия,
оценке функциональной безопасности, технической поддержке и модификации. Увеличение сложности может
также затруднить долгосрочное поддержание функциональной безопасности
Е/Е/РЕ
СБЗС-систем
3 При расчетах для получения необходимого охвата диагностикой и путей его реализации предполагается,
что
Е/Е/РЕ
СБЗС-системы нормально работают при наличии другого опасного дефекта, который обнаружен
диагностическими тестами. Если это предположение неверно, то
Е/Е/РЕ
СБЗС-систему следует рассматривать как
систему, действующую в режиме с высокой частотой запросов или с непрерывным запросом (см. 5.11.3 и 5.8.2.5).
4 Диагностическое тестирование, используемое для обнаружения опасных отказов внутри подсистемы,
может быть осуществлено другой подсистемой внутри
Е/Е/РЕ
СБЗС-системы.
5 Диагностические тесты могут действовать непрерывно или периодически в зависимости от интервала
диагностических проверок. Возможны случаи или интервалы времени, когда запуск диагностического теста
невозможен из-за того, что тестируемая система находится в неблагоприятном состоянии. Для таких случаев
результаты расчета охвата диагностикой не являются корректными.
53