ГОСТ Р 52038-2003
А.2.2 Заднюю вершинную рефракцию in situ
Dlx.
дгттр. вычисляют по формуле (А.1) при
nmtd
= 1.336 и
значениях радиусов кривизны. толщины и показателя преломления ИОЛ в условиях in situ.
Если измерения радиусов кривизны, толщины и показателя преломления проведены нс вусловиях in situ,
то в них должны быть внесены соответствующие поправки.
А.З Определение задней вершинной рефракции но измеренному жалению загнет фокусного расстояния
А.3.1 Общие положения
Для получения параксиального фокусного расстояния но измеренному ЗФР должны быть введены
поправки на расстояния: от вершины задней поверхности ИОЛ до задней главной плоскости ИОЛ и от
параксиальной фокальной точки до точки «лучшего фокуса».
П р и м е ч а н и е — ЗФР и две поправки являются векторными величинами. Положительным считают
направление вдаль оптической оси к изображению.
А.3.2 Средства измерения
А.3.2.1 Для измерения ЗФР используют оптическую скамью, схема которой приведена на рисунке А.1.
■у
6
I
— микроскоп:
2 —
НОЛ;
3
— коллиматор;
4
— шкала USAF:
5 —
лмхраичный ф нлмр:
6
— конденсор: 7 — диафрагма
Рисунок А.1 — Оптическая скамьи с ИОЛ
4