ГОСТ 32666—2014
4 Сущность методов
4.1 Метод А
Сущность метода А заключается в определении среднего диаметра элементарной нити по
линейной плотности комплексной нити без аппрета, плотности материала комплексной нити и по
числу элементарных нитей в комплексной нити.
Линейную плотность комплексной нити определяют в соответствии с приложением Б. плотность
материала комплексной нити - в соответствии с приложением В.
При мечан ие - Число элементарных нитей в комплексной нити должно соответствовать данным,
предоставленным изготовителем углеродного волокна.
4.2 Метод В
Сущность метода В заключается в измерении эквивалентного диаметра элементарной нити
с помощью оптического микроскопа, который дает представление о расстоянии между двумя краями
элементарной нити при наблюдении ее сбоку.
При мечан ие - Точность метода В ограничена эффектами дифракции, и поэтому не рекомендуется
применять этот метод к измерению элементарных нитей диаметром меньше 10 мкм.
4.3 Метод С
Сущность метода С заключается в измерении с помощью микроскопа диаметра и площади
поперечного сечения разрезанной поперек элементарной нити, залитой термореактивной смолой,
поверхность которой полируют после отверждения перпендикулярно оси элементарной нити.
При мечан ие - Точность метода С ограничивается дифракцией света электронного луча. При испыта
нии элементарных нитей диаметром больше 10 мкм. рекомендуется использовать оптический, при испытании
элементарных нитей диаметром не более 10 мкм - электронный микроскоп.
4.4 Метод D
Сущность метода Оэаключается в расчете диаметра по расстоянию между двумя дифракцион
ными изображениями на экране, по длине волны света и фокусному расстоянию системы при облу
чении элементарной нити когерентным монохроматическим светом, например, лазерным лучом.
При мечание - Метод D подходит для определения диаметра элементарных нитей круглого
поперечного сечения. Для элементарных нитей, имеющих поперечное сечение другой формы, например,
овальное или в форме почки, этот метод даст «эквивалентный» диаметр.
5 Оборудование
5.1 Оборудование для метода В
5.1.1 Микроскоп, оснащенный источником света, предметным столиком, конденсором под
предметным столиком, объективом и окуляром (в соответствии с 7.1). Предметный столик должен
перемещаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях в горизонтальной плоскости и пово
рачиваться вокруг своей вертикальной оси.
Калибруют микроскоп с помощью микрометра, которым оснащен предметный столик микроско
па. и окуляра, градуированного в сотых долях миллиметра.
Объектив и окуляр должны обеспечить увеличение не менее:
100-кратного для наблюдения элементарных нитей:
1000-кратного для измерения диаметра элементарной нити.
5.1.2 Рамка для крепления элементарной нити с продольной прорезью (см. рисунок 1)
2