Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 11.11.2024 по 17.11.2024
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р МЭК 61675-1-2013; Страница 11

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р МЭК 61345-2013 Модули фотоэлектрические. Испытания на воздействие ультрафиолетового излучения (Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические модули и устанавливает правила проведения испытаний по определению стойкости модуля к воздействию ультрафиолетового (УФ) излучения. Испытания применяются для оценки стойкости к воздействию УФ-излучения таких материалов, как пластики и защитные покрытия. Целью данного стандарта является определение способности модуля выдерживать ультрафиолетовое излучение в диапазоне от 280 до 400 нм. До выполнения этого испытания должна быть выполнена световая обработка или другие предварительные процедуры в соответствии с МЭК 61215 или МЭК 61646) ГОСТ Р МЭК 61701-2013 Модули фотоэлектрические. Испытания на коррозию в солевом тумане (Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические модули и устанавливает процедуры испытаний для определения стойкости различных фотоэлектрических модулей к коррозионному воздействию солевого тумана, содержащего ионы хлора (NaCl, MgCl2 и т. п.). Все испытания, включенные в эти процедуры, за исключением испытания шунтирующего диода на работоспособность, полностью описаны в МЭК 61215, МЭК 61646, МЭК 62108, МЭК 61730-2 и МЭК 60068-2-52) ГОСТ Р МЭК 61829-2013 Батареи фотоэлектрические из кристаллического кремния. Измерение вольт-амперных характеристик в полевых условиях (Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические батареи из кристаллического кремния и устанавливает порядок измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) кремниевых кристаллических фотоэлектрических батарей в натурных условиях и пересчета данных измерения для стандартных условий испытаний (СУИ) или для других выбранных значений температуры и энергетической освещенности)
Страница 11
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р МЭК 61675-12013
мм вдоль оси. начиная от центра, до расстояния, которое зависит от ПОПЕРЕЧНОГО ПОЛЯ ЗРЕНИЯ,
как описано при измерениях ШИРИНЫ АКСИАЛЬНОГО СЛОЯ (см. 3.1.3.2.2). Каждый ТОЧЕЧНЫЙ
ИСТОЧНИК следует изображать на оси с интервалами 20 мм. начиная от центра томографа и до
положения 10 мм от края АКСИАЛЬНОГО ПОЛЯ ЗРЕНИЯ.
3.1.3.3 СБОР ИНФОРМАЦИИ
Информация должна быть собрана для всех источников во всех положениях, указанных выше,
либо от единичного источника, либо от группы источников, чтобы уменьшить время на сбор
информации. Не менее 50 000 отсчетов должно быть собрано в каждой функции отклика.
3.1.3.4 ПРОЦЕСС ОБРАБОТКИ ИНФОРМАЦИИ
Для всей информации о ПРОСТРАНСТВЕННОМ РАЗРЕШЕНИИ следует использовать
реконструкцию информации, полученной от ПРОЕКЦИИ, использующей тонкий фильтр с отсечкой на
частоте Найквиста.
3.1.4 Анализ
РАДИАЛЬНОЕ И ТАНГЕНЦИАЛЬНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ должны быть определены получением
одномерных функций отклика, которые образуются с помощью профилей ПОПЕРЕЧНОЙ
ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ФУНКЦИИ ТОЧЕЧНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ в радиальном и тангенциальном
направлениях, проходящих через максимум распределения.
АКСИАЛЬНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ при измерениях с ТОЧЕЧНЫМ ИСТОЧНИКОМ определяют из
одномерной функции пространственного отклика (АКСИАЛЬНЫЕ ФУНКЦИИ ПРОСТРАНСТВЕННОГО
ТОЧЕЧНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ), которые получают из профилей, проходящих через объемное
изображение в аксиальном направлении и через максимум распределения в срезе, самом близком к
источнику.
ШИРИНА АКСИАЛЬНОГО СЛОЯ определяется образованием одномерных функций отклика
(АКСИАЛЬНЫЕ ФУНКЦИИ ПРОСТРАНСТВЕННОГО ТОЧЕЧНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ), которые
образуются суммированием отсчетов в срезе при каждом аксиальном положении каждого радиально
расположенного источника.
Каждую ПШПМ определяют линейной интерполяцией между соседними ПИКСЕЛАМИ на
половине максимального значения ПИКСЕЛА, которое является максимумом функции отклика (см.
рисунок 11). Значения ПИКСЕЛА должны быть преобразованы в миллиметры умножением на
соответствующий размер ПИКСЕЛА.
Каждый ЭКВИВАЛЕНТ ШИРИНЫ следует измерять из соответствующей функции отклика. ЭШ
рассчитывают по формуле:
Ся
ЭШ
= У
С,
PW
(D
где С ,-- сумма счетов на профиле между пределами, обозначенными 1/20
Ст
на каждой
стороне от максимума;
Ст-
максимальное значение ПИКСЕЛА;
PW -
ширина ПИКСЕЛА (или осевое приращение в случае АКСИАЛЬНОЙ ШИРИНЫ СРЕЗА),
мм (рисунок 12).
3.1.5 Отчет
РАДИАЛЬНЫЕ И ТАНГЕНЦИАЛЬНЫЕ РАЗРЕШЕНИЯ (ПШПМ и ЭШ) для каждого радиуса,
усредненные по всем слоям, должны быть рассчитаны и представлены как значения ПОПЕРЕЧНОГО
РАЗРЕШЕНИЯ. Должна быть представлена ШИРИНА АКСИАЛЬНОГО СРЕЗА (ЭШ и ПШПМ) для
каждого радиуса, усредненная для всех слоев каждого типа (т.е. нечетных, четных). Также должны
быть представлены поперечные размеры ПИКСЕЛА и значение аксиального шага.
Для систем с измерением АКСИАЛЬНОГО РАЗРЕШЕНИЯ должно быть представлено
АКСИАЛЬНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ (ПШПМ и ЭШ). усредненное по всем слоям. Для этих систем также
должен быть указан аксиальный размер ПИКСЕЛА в мм.
Для систем, использующих ТРЕХМЕРНУЮ РЕКОНСТРУКЦИЮ, указанная выше информация о
РАЗРЕШЕНИИ не должна усредняться. Должны быть представлены графики ПОПЕРЕЧНОГО И
АКСИАЛЬНОГОРАЗРЕШЕНИЯ,показывающиезначенияРАЗРЕШЕНИЯ(РАДИАЛЬНОГО,
ТАНГЕНЦИАЛЬНОГО и АКСИАЛЬНОГО) на каждом радиусе как функцию числа слоев.
7