ГОСТР МЭК 60891—2013
три кривые ВАХ испытуемого прибора. Эти три ВАХ охватывают диапазон температур и энергетиче
ских освещенностей, в котором применима данная методика.
Все методы применимы к приборам с линейной характеристикой тока короткого замыкания со
гласно определению, изложенному в МЭК 60904-10.
Общим требованием для реализации всех методик является измерение ВАХ в соответствие с
МЭК 60904-1.
Энергетическую освещенность G. как правило, вычисляют по измеренному току короткого замы
кания
1„л
эталонного фотоэлектрического прибора, в соответствии с МЭК 60904-2 и его калибровоч
ному значению /,лСУИз. при стандартных условиях испытаний (СУИ). Для учета температуры 7, эта
лонного прибора требуется введение поправки, содержащей специфический относительный темпера
турный коэффициент эталонного прибора (ъП^С), который задается при 25Х и 1000 Вт/м2.
Спектральная характеристика эталонного фотоэлектрического прибора должна соответствовать
испытуемому образцу. В противном случае должен быть выполнен расчет поправки на спектральное
несоответствие согласно МЭК 60904-7. Во всем представляющем интерес диапазоне энергетической
освещенности эталонный прибор должен иметь линейную характеристику тока короткого замыкания,
определяемую в соответствии с МЭК 60904-10.
3.2 Методика коррекции 1
Коррекцию измеренной ВАХ для приведения к СУИ или другим выбранным значениям темпера
туры и энергетической освещенности выполняют с применением следующих уравнений преобразова
ния:
где Л. У) - координаты точек на измеренной характеристике;
l2, V2
- координаты соответствующих точек на скорректированной характеристике;
G, - энергетическая освещенность, измеренная эталонным прибором;
G2
- энергетическая освещенность при СУИ или другая требуемая энергетическая освещенность:
Ft - измеренная температура испытуемого образца;
Т2 -
температура при СУИ или другая требуемая температура;
/к, - ток короткого замыкания испытуемого образца, измеренный при G, и Г,;
а
и /3 - температурные коэффициенты тока и напряжения испытуемого образца в представляю
щем интерес температурном диапазоне для энергетической освещенности при СУИ или другой за
данной энергетической освещенности;
Rn
- внутреннее последовательное сопротивление испытуемого образца;
к - коэффициент коррекции кривой.
Примечания:
1 Поскольку при переходе от меньшего значения энергетической освещенности к большему точка на оси
токов, изображающая напряжение холостого хода U„i , сместится с оси токов, следует определить смещенное
значение
U„2
путем линейной экстраполяции с использованием, по меньшей мере, трех экспериментальных то
чек. расположенных вблизи и ниже точки (Ли- Другим способом является измерение исходной ВАХ достаточно
далеко за пределами значения (Ли.
2 Размерности всех параметров коррекции должны быть согласованы.
3 Если испытуемый образец представляет собой модуль, параметры коррекции ВАХ элемента могут быть
найдены из схемы соединения элементов. Параметры коррекции ВАХ элемента могут быть использованы для
расчета параметров коррекции ВАХ других модулей, использующих такие же элементы.
Примечания:
1 Для проводимых при коррекции ВАХ преобразований требуется оценка точности нахождения преобра
зованной ВАХ при выполнении коррекции (см. раздел 7).
2 Все фотоэлектрические приборы должны обладать линейными характеристиками в ограниченном диапа
зоне значений энергетической освещенности и температуры прибора. Детальное описание приведено в МЭК
61853-1.
(
1
)
(
2
)
2