ГОСТ Р МЭК 60891—2013
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТР О С С И Й С К О ЙФ Е Д Е Р А Ц И И
Государственная система обеспечения единства измерений
ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
Методики коррекции
по температуре и энергетической освещенности результатов измерения вольт-амперной ха
рактеристики
State system for ensuring the uniformity of measurements.
Photovoltaic devices. Procedures for temperature and irradiance corrections to measured current voltage characteristics
Дата введения — 2015—07—01
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает методики коррекции по температуре и энергетической ос
вещенности результатов измерения вольт - амперных характеристик (ВАХ) фотоэлектрических при
боров. Стандарт также устанавливает методики определения параметров, используемых при данной
коррекции. Требования к измерению ВАХ фотоэлектрических приборов изложены в МЭК 60904-1.
Примечания:
1 К фотоэлектрическим приборам относят единичный солнечный элемент с защитным покрытием или без,
сборка солнечных элементов и модуль. Для разных типов приборов применяются различные наборы параметров
коррекции ВАХ. Несмотря на то. что температурные коэффициенты для модуля (или сборки элементов) могут
быть вычислены из результатов измерений единичного элемента, следует отметить, что для модуля и сборки
элементов должны быть отдельно измерены внутреннее последовательное сопротивление и коэффициент кор
рекции кривой.
2 Термин «испытуемый образец» используют применительно к любому из этих приборов.
3 При использовании параметров коррекции ВАХ следует учитывать, что эти параметры являются верны
ми для того фотоэлектрического прибора, для которого они были измерены. Для изделий одной партии или из
делий одного типа их значения могут быть разными.
2 Нормативные ссылки
Международные стандарты, на которые приведены ссылки, являются обязательными для приме
нения настоящего стандарта. В отношении датированных ссылок действительнотолькоуказанное
издание. В отношении недатированных ссылок действительно последнее издание публикации
(включая любые изменения), на которую дается ссылка.
МЭК 60904-1:2006 Приборы фотоэлектрические. Часть 1. Измерение вольт-амлврных характеристик
МЭК 60904-2:2007 Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным приборам
МЭК 60904-7: 2008 Приборы фотоэлектрические. Часть 7. Расчет поправки на спектральное не
соответствие при измерениях фотоэлектрических приборов
МЭК 60904-9: 2007 Приборы фотоэлектрические. Часть 9. Требования к характеристикам имита
торов солнечного излучения
МЭК 60904-10: 2009 Приборы фотоэлектрические. Часть 10. Методы измерения линейности
3 Методики коррекции
3.1 Общие положения
Для коррекции результатов измерений ВАХ к другим условиям по температуре и энергетической
освещенности, например к стандартным условиям испытаний (СУИ), могут быть использованы сле
дующие три методики. Первая совпадает с методикой, которая изложена в первой редакции настоя
щего стандарта (МЭК 891:87), отличие состоит в более удобной форме записи ее уравнений. Вторая
методика является альтернативной методу алгебраической коррекции, который дает хорошие ре
зультаты при больших (>20 %) поправках на энергетическую освещенность. Реализация каждой из двух
методик требует знания параметров фотоэлектрического прибора, которые необходимо опреде лить до
проведения коррекции. Третья методика представляет собой процедуру интерполяции и не требует
знания параметров коррекции. Методику можно применять, если измерены, по меньшей мере.
Издание официальное
1