ГОСТ Р 8.841—2013
Т а б л и ц а 5 — Значения £(>.) для контрольного источника —
плазмы типа I
Длина волны X. нмЕ"(Х)
0.90.000
1.00.050
1.20.200
1.30.100
1.61.000
1.70.250
2.00.010
2.50.020
3.00.000
Т а б л и ц а 6 — Значения £(>.) для контрольного источника —
плазмы типа II
Длина волны X. нм
Г=’(Х)
0.803 1.000
0.992 0.330
1.24 0.290
1.02 0.221
2.5 0.170
4.0 0.011
5.0 0.014
6.0 0.050
7.0 0.090
8.0 0.100
9.0 0.110
10.00.130
Т а б л и ц а 7 — Значения £{Х) для контрольного источника — лазерной плазмы типа IV
Длина волны X. нмДлина волны им£(Х)
1.00.175
1.250.226
1.500,263
1.750.336
2.000.584
2,250.504
2,50
0.460
2.750.474
3.000,299
3,250.394
3.500,489
3.750,292
4.000.161
4.250.146
4.500.175
4.750.102
5.000.109
5.250.073
5.500,095
5.750.153
6.000.474
6.250.803
6.501.000
6.750.978
7.000.832
7.250.788
7.500.825
7.750.672
8.000.474
8.250.394
8.500.336
8.750.285
8.000.321
9.250.263
10.000.175
8.3.2 Определение погрешности абсолютной чувствительности
Определение погрешности абсолютной чувствительности радиометров ЭУФ-излучения в диапа
зонедлин волн 1—10 нм проводятсиспользованием источникасинхротронногоизлучения. Эталонныйи
поверяемый радиометры поочередно устанавливают на одинаковом расстоянии от излучателя и юсти-
5