Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р МЭК 60793-1-41-2013; Страница 8

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р МЭК 60317-0-6-2013 Технические условия на обмоточные провода конкретных типов. Часть 0-6. Общие требования. Провода медные круглые со стекловолокнистой или эмалево-стекловолокнистой изоляцией, пропитанной компаундом или лаком (Настоящий стандарт устанавливает общие требования к медным круглым проводам со стекловолокнистой или эмалево-стекловолокнистой изоляцией, пропитанной компаундом или лаком) ГОСТ Р МЭК 60793-1-42-2013 Волокна оптические. Часть 1-42. Методы измерений и проведение испытаний. Хроматическая дисперсия (Настоящий стандарт устанавливает единые требования к измерению хроматической дисперсии оптического волокна, таким образом содействуя проверке пригодности к использованию в коммерческих целях волокон и кабелей) ГОСТ Р МЭК 60793-1-43-2013 Волокна оптические. Часть 1-43. Методы измерений и проведение испытаний. Числовая апертура (Настоящий стандарт устанавливает единые требования к измерению числовой апертуры оптического волокна, обеспечивая проверку соответствия волокон и кабелей целям коммерческого использования)
Страница 8
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р МЭК 60793-1-412013
При проведении измерения во временной области (искажение импульса) (метод А) используют
осциллограф, соответствующим образом соединенный с регистрирующим устройством, таким как
цифровой процессор, для хранения амплитуды полученного импульса как функции от времени. Для
временных измерений данные, получаемые с дисплея осциллографа, считают второстепенными по
отношению к данным, полученным из зарегистрированного сигнала.
При проведении измерений в частотной области (метод В) используют комбинацию из следяще
го генератора и электрического анализатора спектра, скалярный сетевой анализатор, векторный се
тевой анализатор или эквивалентный инструмент для обнаружения, отображения и регистрации
ам плитуды сигнала с радиочастотной модуляцией, полученный от оптического детектора. Это
должно быть выполнено способом, позволяющим уменьшить гармонические искажения менее чем до 5
%.
При применении метода С система регистрации должна соответствовать требованиям МЭК
60793-1-49.
4.5 Вычислительное оборудование
При проведении измерения во временной области (искажение импульса, метод А) и ширине по
лосы волокна при насыщающем возбуждении, рассчитанной из дифференциальной модовой задерж
ки (метод С), или если требуется вычисление импульсной характеристики по методу В. используют
вычислительное оборудование, способное выполнять преобразования Фурье обнаруженного оптиче
ского импульса, имеющего форму, полученную в системе регистрации формы сигнала. Это оборудо
вание может выполнять любые из нескольких быстрых преобразований Фурье или других соответст
вующих алгоритмов и также пригодно для использования с другими функциями преобразования сиг
нала. усреднения формы сигнала и хранения данных.
4.6 Общие характеристики системы
П р и м е ч а н и е Настоящий подраздел позволяет проверить устойчивость системы во время измере
ния или калибровки системы в зависимости от используемого метода (А. В или С. см. 6.1, 6.2 и МЭК 60793-1-49
соответственно).
Устойчивость системы измерений испытывают методом сравнения преобразований Фурье им
пульса на входе системы (метод В) или входных частотных характеристик на каком-то интервале
времени. Как показано в приложении В. измерение ширины полосы позволяет нормировать преобра
зование импульса на выходе волокна методом перекалибровки системы. Если эталонный образец
заменят образцом волокна, то результирующая характеристика H(f) будет сравнением системы са
мой с собой на каком-то промежутке времени. Такая устойчивость нормированной амплитуды систе мы
используется для определения предела устойчивости системы по частоте (SSFL).
SSFL является самой низкой частотой, при которой значение отклонения устойчивости ампли
туды системы от согласованного значения составляет около 5 %. При применении метода А-1 или В-1
эту частоту определяют на основе одного повторного измерения на промежутке времени, соответст
вующем промежутку времени фактического измерения на волокне. При применении метода А-2 или
В-2 эту частоту определяют главным образом на том же промежутке времени, на котором проводят
периодическую калибровку системы (см. 6.1.2). В последнем случае промежуток времени может вли
ять на SSFL.
Для определения SSFL уменьшают значение мощности оптического сигнала, достигающего де
тектора, на значение, равное или большее значения затухания сигнала в испытуемом волокне, плюс 3
дБ. Для этого в составе оптического пути может потребоваться аттенюатор, если уже не присутст вует
аттенюатор, который может быть использован для нормирования и масштабирования сигнала. Также
при определении SSFL на устройстве отображения должны наблюдаться нормальные откло нения в
положении и амплитуде импульса или частотной характеристики.
5 Отбор и подготовка образцов
5.1 Испытуемый образец
Испытуемый образец оптического волокна или оптоволоконного кабеля должен иметь извест
ную длину.
6