ГОСТ Р МЭК 60793-1-41—2013
4 Испытательное оборудование
4.1 Источник излучения
4.1.1 Метод А. Измерение во временной области (искажение импульса)
Для проведения измерений используют источник излучения, такой как инжекционный лазерный
диод, излучающий импульсы короткой длительности и с узким спектром. При методе измерения ис
кажения импульса требуется способность электрического или оптического переключения энергии ис
точников света. Некоторые источники света для производства импульса должны возбуждаться элек
трическим сигналом. В этом случае должны быть предусмотрены устройства генерации импульсов
возбуждения. С этой целью может быть использован генератор электрической функции или эквива
лентное устройство. Его выходная мощность должна быть использована как для побуждения выра
ботки импульса источником света, так и приведения в действие системы регистрации. Другие источ
ники света могут самовозбуждаться. в этом случав должны быть предусмотрены средства для син
хронизации системы регистрации с импульсами, исходящими от источника света. В некоторых случа ях
это может быть достигнуто применением электрических средств, в других случаях - оптоэлектрои-ных
средств.
4.1.2 Метод В. Изморение в частотной области
Для проведения измерений в качестве источника излучения используют инжекционный лазер
ный диод непрерывного излучения. При использовании метода измерения в частотной области тре
буется способность модулировать энергию источника света электрическим или оптическим
способом. Модуляционный выход следящего генератора или анализатора сети соединяют с
модулятором с по мощью любого указанного задающего усилителя.
4.1.3 Метод С. Модовая ширина полосы при насыщающем возбуждении, рассчитанная из
дифференциальной модовой задержки (ОМВс)
Используют источник излучения как указано в МЭК 60793-1-49.
4.1.4 Для методов А и В
a) Используют источник излучения с известным значением центральной длины волны, находя
щимся в пределах ± 10 нм указанного номинального значения длины волны. В случае применения
инжекциониых лазерных диодов лазерное излучение, вводимое в волокно, должно превышать спон
танное излучение не менее чем на 15 дБ (оптическое).
b
) Используют источник с достаточно узкой шириной линии для того, чтобы измеренная ширина
полосы составляла не менее 90 % от межмодовой ширины полосы. Этого достигают вычислением
предела нормированной межмодовой дисперсии. NIDL (см. приложение А). Для волокна категории А4
ширина линии любого лазерного диода достаточно узкая, что позволяет не учитывать ее при измере
нии ширины полосы пропускания.
c) Для волокон категорий А1 и АЗ рассчитывают NIDL. ГГц км. (приложение А) каждого измерен
ного значения длины волны из ширины спектра оптического источника для этой длины волны сле
дующим образом:
IDF
где ДА- полная ширина кривой распределения по уровню 0,5 спектральной ширины источника;
IDF - коэффициент межмодовой дисперсии. ГГц км нм. взятый из приложения А в соответствии
с длиной волны источника;
NIDL - не определен для длин волн в диапазоне 1200-1400 нм. Спектральная ширина источни
ка для этих длин волн должна быть не более 10 нм по уровню 0,5.
П р и м е ч а н и е — Приемлемость значений NIDL зависит от указанных потребителем требований к испы
таниям. Например, NIDL с значением 0.5 ГГц км будет приемлемым для проверки того, что минимальная ширина
полосы волокна превышает некоторое значение меньшее 500 МГц км. но не будет приемлемым для проверки
того, что минимальная ширина полосы волокна превышает 500 МГц км. При слишком низком значении NIDL тре
буется источник с меньшей спектральной шириной.
d)Источник излучения должен быть спектрально стабильным по всей длительности одного им
пульса и в течение времени проведения измерения.
3