ГОСТ МЭК 60335-1-2008
На рисунка 6 показан пример маломощной цепи, и она определяется следующим образом.
Прибор работает при номинальном напряжении, переменный резистор, установленный на
максимальное сопротивление, подключают между исследуемой точкой и противоположным полю
сом источника питания. Затем сопротивление резислюра уменьшают до тех пор. пока мощность,
потребляемая резистором, не достигнет своего максимального значения. Болев близкие к источ
нику питания лючки, в которых максимальная мощность, создаваемая в этом резисторе, не превы
шает 15 Вт к концу периода в 5 с. являются маломощными точками. Часть цепи, расположенную от
источника питания дальше маломощной точки, считают маломощной цепью.
П ри ме чан ия
1 Измерения выполняют только от одного полюса источника питания, предположительно от того, который
создаст меньшее число маломощных точек.
2 При определении маломощных точек рекомендуется начинать с точек, расположенных наиболее близко к
источнику питания.
3 Мощность, потребляемую переменным резистором, измеряют ваттметром.
19.11.2При испытании рассматривают и при необходимости последовательно создают сле
дующие возможные повреждения:
a) короткое замыкание функциональной изоляции, если зазоры или пути утечки меньше
значений, установленных в разделе 29;
b
) обрыв выводов любого компонента:
c) короткое замыкание конденсапюров. не соответствующих IEC 60384-14;
d) короткое замыкание любых двух выводов электронных компонентов, кроме интегральных
схем. Это повреждение не применяют между двумя цепями оптопары:
в) работа симисторов в диодном режиме:
f) повреждение интегральных схем. В качестве повреждений, возникающих внутри интеграль
ной схемы, рассматривают все возкюжнью выходные сигналы. Если возможно показать, что опреде
ленный выходной сигнал маловероятен, пю соответствующую неисправность не рассматривают.
П ри ме чан ия
1Такие компоненты, как тиристоры и симисторы, не подвергают испытаниям по перечислению f)-
2 Микропроцессоры испытывают какинтегральные схемы;
д) повреждение силового электронного ключевого устройства в неполный включенный режим
из-за потери управления затвором (базой). В течение этого испытания температура обмоток не
должна превышать значения, указанного в 19.7.
П ри ме чан ия
3 Этот режим может имитироваться отсоединением затвора (базы) у силового электронного ключевого
устройства и подключением внешнего регулируемого источника питания между затвором (базой) и истоком (эмит
тером) силового электронного ключевого устройства. Затем источник питания регулируют таким образом, чтобы
получить такой ток. который не приведет к повреждению силового электронного ключевого устройства, но создает
наиболее неблагоприятные условия испытания.
4 Примерамисиловыхэлектронных ключевых устройств являются полевыетранзисторы (FET’s иMOSFET’s)
и биполярные транзисторы (включая IGBT).
Неисправность по перечислению f) применяют к компонентам, заключенным в герметически за
крытую оболочку, и аналогичным компонентам, если цель не может быть оценена другими методами.
Резисторы с положительным температурным коэффициентом не замыкают накоротко, если
они используются в соответствии с указаниями изготовителя этих компонентов. Однако термо
резисторы РТС-S замыкают накоротко, если они не соответствуют IEC 60738-1.
Кроме того, каждую маломощную цепь замыкают накоротко путем подключения маломощной
точки к тому полюсу источника питания, от которого проводилось измерение.
Для имитации повреждений прибор работает при условиях, указанных в разделе 11. но при
номинальном напряжении.
При имитации любого условия неисправности продолжительность испытания равна.
- указанной в 11.7. но только в течение одного рабочего цикла и только в том случав, если не
исправность не может быть определена потребителем, например по изменению температуры:
- указанной в 19.7, если неисправность но может быть определена потребителем, например
если останавливается двигатель кухонной машины:
34