ГОСТ 30345.0-95
d) короткое замыкание любых двух выводов электронных элементов, кроме
интегральных схем. Это повреждение не осуществляется между двумя цепями оп
тронов;
e) повреждение триаков (двунаправленных триодных тиристоров) в диод
ной сборке;
0 повреждение интегральных схем. В этом случае возможные условия по
вреждения прибора создают таким образом, чтобы быть уверенным в том, что
безопасность не связана с нормальным функционированием таких компонентов.
Все возможные выходные сигналы внутри интегральной схемы при работе в
условиях повреждения тщательно изучают. Если возможно показать, что опреде
ленный выходной сигнал маловероятен, то соответствующее повреждение не рас
сматривают.
П р и м е ч а н и я
1 Такие комплектующие, как тиристоры и трнакн, не подвергают испытаниям по пере
числению е).
2 Микропроцессоры испытывают как интегральные схемы.
Кроме того, каждую маломощную цепь замыкают накоротко путем подклю
чения маломощной точки к тому полюсу источника питания, от которого прово
дилось измерение.
Для имитации повреждений прибор включают в работу в условиях, указан
ных в разделе 12, но при номинальном напряжении.
Когда любое повреждение возникает, продолжительность испытания будет
равна:
- указанной в 12.7, но только в течение одного рабочего цикла и только в том
случае, если повреждение не может быть определено потребителем, например из
менение температуры;
- указанной в 20.7, если повреждение может быть определено потребителем,
например когда останавливается двигатель кухонной машины;
- до достижения установившегося состояния для цепей, постоянно подклю
ченных к сети питания, например для резервных цепей.
Во всех случаях испытание считают законченным, если внутри прибора
53