ГОСТ Р 8.748—2011
6.2 Подготовка поверхности образца должна выполняться так. чтобы минимизировать любые
изменения поверхностной твердости, например, связанные с холодной обработкой.
В связи с небольшой глубиной иидентирования в микро- и нанодиапазоне во время подготовки
поверхности образца следует предприниматьособые меры предосторожности. Необходимо использо
вать процессполировки, подходящий для конкретных материалов(например, электрополировку).
6.3 Толщина испытуемого образцадолжна бытьдостаточно большой (илидостаточно малойдол
жна бытьглубинаиидентирования).чтобы влияниеподложкинарезультат измерениябыло малым. Тол
щина испытуемогообразца должна превышать глубину иидентирования минимум в 10 раз ил и в 3 раза
превышатьдиаметр зоны иидентирования (см. примечание в 7.7).
При испытании покрытий толщина покрытия должна рассматриваться как толщина испытуемого
образца.
П р и м е ч а н и е — Эти ограничения обоснованы эмпирически. Точные пределы влияния подложки на
результаты измерения механических свойств испытуемого образца зависят от геометрии используемого наконеч
ника и свойств материалов испытуемого образца и подложки.
7 Методика
7.1 Температуру при испытаниях следует регистрировать. Как правило, измерения проводятся в
диапазоне температуры окружающей среды от 10 °Сдо 35 °С.
Нестабильность температуры оказывает большее влияние на точность измерений, чем само зна
чение температуры в процессеизмерений.
Л
юбая вносимая поправка должна протоколироватьсявмес
те с соответствующей неопределенностью. Рекомендуется проводить измерения, в частности в нано- и
микродиапазонах, в контролируемыхклиматических условиях: в температурном диапазоне (23
±
5) °С и
относительной влажности менее 50 %.
Из-за требований высокойточности измерения глубиныотдельныеиспытаниядолжны выполнять
ся в моменты, когда температура стабильна. Это означает, что:
- испытуемые образцы должны приобрести температуру окружающей среды еще до проведения
испытания;
- температура измерительной установки должна быть стабильной (следует свериться с руковод
ством по эксплуатации):
- следует уменьшать воздействия внешних источников, которые могут вызывать температурные
изменения вовремя отдельного измерения.
Чтобы минимизироватьтемпературныйдрейф, температуру измерительной установки нужнопод
держивать постоянной в течение всего цикла измерений или ввести поправку на температурныйдрейф
(см. 7.5иЩ(пункт4.4.3).
Следуетпротоколироватьнеопределенностьрезультатовизмерений, вызванную температурным
дрейфом.
7.2 Образецдолженбытьзакреплен наопорнойповерхности измерительнойустановкитак. чтобы
ее работа строго соответствовала заданным условиям. Образец устанавливаютна опорной поверхнос ти
или закрепляют в держателе строго перпендикулярно к направлению иидентирования. Контактные
поверхности между образцом, опорной поверхностью илидержателем недолжны содержать посторон
них веществ, которые могутснизитьжесткость закрепления образца.
7.3 Нулевая точка при измерениях на кривой нагрузка/глубина иидентирования устанавливается
для каждого набораданныхпорезультатам измерений. Онасоответствуетпервомуконтактунаконечни
ка с образцом. Неопределенность нахождения нулевой точки необходимо протоколировать. Эта
неопределенностьдолжна быть менее 1% максимальной глубины иидентированиядля макро- имикро
диапазона. Для нанодиапазона она может превышать 1%, и в этом случав значение неопределенности
должно быть внесенов протокол измерений.
Должно быть записано достаточное число данных при приближении наконечника к поверхности
образца инаучасткеиидентирования до 10 % максимальной глубины, чтобы нулевую точкуможнобыло
установить с требуемой неопределенностью. Рекомендуетсяодин из следующих методов:
1)Нулевая точка вычисляется аппроксимацией зависимости нагрузки от перемещения на
F-
Л
-диаграмме. например, полиномом второйстепени. Подбор коэффициентов полинома выполняется
для глубин иидентирования от нулядо глубин не более 10 % максимальной. Неопределенность вычис
ленной нулевой точки зависит от параметров подгонки аппроксимирующей функции и области
аппроксимации.
5