ГОСТ Р 50030.6.2— 2011
1
1 —
источник питания
2 —
генератор ианосекуидных импульсных помех:
3 —
испытуемый аппарат;
4
— оболочка (при наличии); 5 — аспомотательное устройство:
Z —
полное сопротивление
для регулирования тока (при необходимости)
Рисунок 15 — Испытательная цепь для проверки устойчивости к наносекундным
импульсным помехам. Трехфазная конфигурация цепи
1 —
испытуемый аппарат; 2 — металлическая оболочка.
3 — размер X
должен быть минимальным;
4
— источник питания; 5 — генератор наносекундным импульсных помех, 6 — заземляющая пластина;
L
—общая длина кабеля
П р и м е ч а н и е — Это конкретный пример. Допускается применение других испытательных установок,
отвечающих другим требованиям к испытаниям.
Рисунок 16 — Испытательная установка для проверки устойчивости
к наносекундным импульсным помехам
56