ГОСТ Р 50030.6.2— 2011
1 —
источник питания.
2 —
генератор наносекуидных импульсных помех:
3 —
испытуемый аппарат:
4
— оболочка (при наличии): 5 — вспомогательное устройство
Рисунок 13 — Испытательная цепь для проверки устойчивости
к наносекундным импульсным помехам. Двухфазная конфигурация цепи
с последовательным соединением полюсов
83 пФ
чь-
1
-• источник питания.
2 —
генератор наиосекундных импульсных помех: 3 — испытуемый аппарат;
4
— оболочка (при наличии); 5 — вспомогательное устройство
Рисунок 14 — Испытательная цепь для проверки устойчивости к наносекундным импульсным помехам.
Трехфазная конфигурация цепи с последовательным соединением полюсов
55