ГОСТ Р 8.695—2009
Т а б л и ц а В.2 — Вычисление неопределенности измерений испытательной нагрузки
Величина X,
Оценка
значений xt
Относительные
предельные
значения а,
Тип
распределения
Относительная
стандартная
неопределенность
измерений Щх,)
Коэффициент
чувствительности
с,
Относительный
вклад а общую
неопределенность
измерений uJH)
Шча294.2 Н
0.06 Н
6.0Е-04
Нормальное
9.0Е-04
6.0Е-04
1
9.0Е-04
Относительная комбинированная стандартная неопределенность иь
1.08Е-03
Относительная расширенная неопределенность результата измерений (Л <к = 2)
2.2Е-03
Т а б л и ц а В.З — Вычисление максимального относительного отклонения испытательной нагрузки с учетом не
определенности измерений эталонного силоизмерительного устройства
Относительное отклонение
испытательной нагрузки AFnl, %
Относительная расширенная
неопределенность результата
измерений испытательной нагрузки U|>.
%
Максимальное относительное отклонение
испытательной нагрузки с учетом
неопределенности результата измерений
эталонною силоизмеритепьного устройства
А * - . . *
0.20
0.22
0.42
где AFMX =»/ ДFnl / т Uf
Результат примера показывает, что относительное отклонение испытательной нагрузки, с учетом неопреде
ленности измерений эталонного силоизмерительного устройства, удовлетворяет требованию раздела 4.2. и не
превышает* 1 %.
В.1.2 Поверка оптического измерительного устройства
Комбинированная относительная стандартная неопределенность эталонного измерительного устройства
вычисляется по формуле (8.2)
ml
= А к » "* Чит«.*В 2 >
гдеи1КЗ — относительная неопределенность измерений эталонного обьект-микрометра. из свидетельства о по-
верке/калибровке при к * 1:
ums — относительная неопределенность измерений, определяемая разрешением измерительного устрой
ства:
wlhtv
— относительная стандартная неопределенность измерений твердомера.
Неопределенность измерений эталонного оптического измерительного устройства (обьект-микрометра)ука-
эана в прилагаемом свидетельстве о поверке/калибровке.
Влияние таких факторов, как:
- температурная зависимость;
- долговременная стабильность.
- интерполяционные отклонения
не оказывает существенного влияния на неопределенность измерений объект-микрометра.
Пример — Неопределенность измерений линейной шкалы: 1/
lr
S= 0.0005 мм (к = 2)
Разрешение измерительного устройства: ms = 0.1 мкм
10