10
чувств ительности дефектоскопа в соответствии с метод икой, изложенной в стандартах или технических условиях на дефектоскоп.
9. При настройке чувствительности дефектоскопа по контроль ной м аг нитограмме на экране импульсной индикации или на диаграмме регистратора следует устанавливать определенный уровень сигнала от контрольного дефект а в испытательном образце.
Яркостную индикацию дефектоскопа при этом следует отрегул ировать так, чтобы в процессе воспроизведения контрольной магнитограммы полутоновое изображение магнитного отпечатка поля контрольного дефекта на экра не э лектронно-лучевой трубки или на регистрограмме имело на иболее четк ие очертания.
10. Настройка чувств ительности дефектоскопа по контрольной магнитограмме должна производиться перед каждым началом работы с ним по метод ике, изложенной в стандартах или технических условиях на дефектос коп конкр ет ного типа.
СОДЕРЖАНИЕ
1. Основные положения
2. Средства контроля 2 3. Подготовка к контролю 4 4. Проведение контроля 4 5. Обработка результатов 6 6. Требования безопасности 7 Приложение 1 Термины и их определения 8 Приложение 2 Требования к испытательным образцам 8 Приложение 3 Требования к контрольным магнитограммам 9 |