С. 8 ГОСТ 27602-88 (МЭК M 4.I-77)
тип измерения (поглощенная доза или мощностьпоглощен
ной дозы):
диапазон поглощенных доз или мощности поглощенной дозы;
влияние энергии излучения;
влияние температу ры;
наблюдения, представляющие практический интерес.
9.1.Так как дозиметрия излучения пока ещеявляетсяоб
ластью активных исследований, в данный стандарт невозможно
было включить все разработанные методы. Точно также в стан
дарте не приведены все инструкции, необходимые для проведе
ния дозиметрических измерений при помощи какого-нибудьиз
описанных методов. В перечень, в основном, включены методы,
принятые как национальными, так и международными стандар
тами; в перечне также указаны диапазоны,принятыев на
стоящее время. Трудности, присущие дозиметрии при высоких
поглощенных дозах или высоких мощностях поглощенных доз —
обычное явление при облучении электроизоляционныхматериа
лов, возникают из возможных радиационных эффектов или по
вреждений деталей дозиметров (например, повреждение изоля
ции ионизационных камер).Специальныеметодыиспытания
могут понадобиться во избежание подобных осложнений.
Раздел 3. РАСЧЕТ ПОГЛОЩЕННОЙ ДОЗЫ ОТ РЕНТГЕНОВСКОГО
И ГАММА-ИЗЛУЧЕНИИ
10. ЦЕЛЬ
10.1. Настоящий стандарт устанавливает методрасчета по
глощенной материалом дозы на основе данных полярент
геновского и гамма-излучений и композиционного составамате
риала. На основе величины поглощенной дозы для одного мате
риала можно рассчитать поглощенную дозу для другогомате
риала. подвергнутого воздействию того же самого поля излуче
ния. Методика ограничивается использованием полейэлектро
магнитного излучения и диапазоне от 0,1 до 3 МэВ.
||. ВЕЛИЧИНЫ ИЗЛУЧЕНИЙ И ЕДИНИЦЫ
11.1. Экспозиция являетсямерой поля излучения, воздейст
вию которого подвержен материал, в то время как поглощенная
доза — это мера энергии, сообщенной материалу, подверженному
облучению. Поэтому поглощенная доза является основным пара
метром для опенки воздействия излучения на материал. Для тою
чтобы легче измерить дозу,поглощеннуюматериалом,необ
ходимо достигнуть равновесия заряженных частиц (см. приложе
ние В).
8