Стр. 4 ГОСТ 20827—7J
одну картину. Критерием наводкина указанную плоскость яв
ляется наибольшая резкость дифракционной картины.
Наводку повторить не менее трех раз, производя каждый раз
отсчет Ki по шкале продольных перемещений микроскопа.
4.1.2. Повторить измерения для нескольких длин волн, вклю
чая Я$.
4.2. И з м е р е н и е с п о с о б о м с к о л ь ц е в о й д и а ф р а г
мой
4.2.1. Навести микроскоп на резкое изображение щели.
4.2.2. Далее по п. 4.1.
4.3. И з м е р е н и е по с п о с о б у с одной п а р о й щелей
4.3.1.Выбрать соответствующую’ длине волны плоскость изо
бражения, в которой будут производиться измерения. Для этого
установить диафрагму последовательно на расстоянии +г
V
г
т
от оси объектива.
При меч ани е.Если при перемещении диафрагмы из одного крайнего
положения в другое наблюдается поперечное смещение дифракционной карти
ны в поле зрения микроскопа, необходимо переместить микроскоп вдоль опти
ческой оси на величину
/т
I = f t , —— ,
скопа, м
где ft»— эмпирический коэффициент, равный 0.7 км;
Д — смещение дифракционной картины в предметной пдоскосгя микро
4.3.2. Навести
м.
перекрестие окуляра микроскопа на среднюю
дифракционную полосу.
Наводку повторить не менее трех раз, производя каждый раз
отсчет й( по шкале окулярного микрометра.
4.3.3. Повторить измерения для нескольких длин волн, вклю
чая Ло-
5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
5.1.Рассчитать хроматическую аберрацию положения AS ^ п
формулам:
а)для измерения по пп. 4.1 и 4.2.
&Sxg= КЧ-К х,.
где К\( — вычисленное среднеарифметическое значение отсчетов
по шкале продольныхперемещений микроскопа для
длины волны Я»;
К— то же, для основной длины волны Яц.
20