ГОСТ Р 51317.4.3—2006
Окончание таблицы 2
Частота
испытаний
Требования к размерам и калибровке плоскости однородного поля
Лиисвая сторона ИТС полностью покрыта
плоскостью однородного поля (предпочтительный
метод полного облучения)
Лицевая сторона ИТС не покрыта полностью
плоскостью однородного поля (альтернативные
методы частичного облучения и независимых окон)
Не бопее
1 ГГц
Размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом точек калибровочной сетки,
отстоящих друг от друга на 0,5 м (т. е. должны
быть: 0.5 х0.5 м; 0.5 х 1.0 м; 1,0 х1.0 ы и т. д.).
Для плоскости однородного поля размерами
более 0.5 »0,5 м напряженность поля а 75 %
точек измерения должна находиться в установ
ленных пределах. Для плоскости однородного
поля размерами 0,5x0,5 м напряженность
поля во всех точках измерения должна нахо
диться в установленных пределах
Минимальные размеры плоскости однород
ного поля должны быть 1,5 х 1.5 м.
Размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом точек калибровочной сетки,
отстоящих друг от друга на 0.5 м (т. е. должны
быть: 1.5 х 1,5 м; 1.5 х2.0 м: 2.0 х2,0 м и т. д.).
Напряженность поля а 75 % точек измере
ния должна находиться в установленных пре
делах
Свыше 1 ГГц
Минимальные размеры плоскости однород
ного поля должны быть 0.5 х0,5 м.
Размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом точек калибровочной сетки,
отстоящих друг от друга на 0.5 м (т. е. должны
быть: 0.5 х0.5 м; 0.5 х 1,0 м; 1,0 х 1,0 м и т. д.).
Для плоскости однородного поля размерами
более 0,5 *0,5 м. напряженность поля в 75 %
точек измерения должна находиться в установ
ленных пределах. Для плоскости однородного
поля размерами 0.5 х0.5 м напряженность
поля во всех точках измерения должна нахо
диться в установленных пределах
Применяются методы частичного облучения
и независимых окон.
При применении метода частичного облуче
ния:
- минимальные размеры плоскости одно
родного поля должны быть 1.5 х 1.5 м.
- размеры плоскости однородного поля
определяются числом точек калибровочной
сетки, отстоящих друг от друга на 0.5 м (т. е.
должны быть: 1.5 х 1,5 м, 1.5 х2,0 м; 2,0 х2.0 м и
т. д.);
- напряженность поля в 75 % точек измере
ния должна находиться а установленных пре
делах.
При применении метода независимых окон
размер окна должен быть 0.5 х0.5 м (см. при
ложение И)
Если в полосе частот от 1до 6 ГГц требования к однородности испытательного поля, установлен
ные в настоящем разделе, могут быть выполнены только на частотах не выше конкретной частоты,
например если ширина диаграммы направленности излучающей антенны недостаточнадля облучения
всей поверхности ИТС, то для более высоких частот применяют метод независимых окон по
приложению И.
Калибровку поля в безэховых и полубезэховых камерах следует проводить с помощью измери
тельной установки, приведенной на рисунке 7. Калибровку всегда следует проводить при немодулиро-
ванной несущейдля горизонтальной и вертикальной поляризаций испытательного поля всоответствии
со значением шага изменения частоты, указанным в разделе 8. Значение напряженности поля при
калибровке должно быть по крайней мере в 1,8 раза больше значения напряженности поля, которое
будет воздействоватьнаТС при проведении испытаний, чтобы обеспечитьпрохождениечерезусилите
ли модулированного сигнала в отсутствие насыщения.
Если обозначитьнапряженностьполя при калибровкечерез Ес.тонапряженность испытательного
поля Е, не должна превышать £,71,8.
П р и м е ч а н и е — Могут быть использованы другие методы предотвращения насыщения.
Ниже приведены два метода калибровки испытательного поля. Измерительная сетка, состоящая
из 16точекизмерения(размеры плоскостиоднородногополя 1,5 * 1,5м), рассмотренавкачествеприме
ра. При правильном применении оба метода обеспечивают одинаковую однородность испытательного
поля.
6.2.1 Метод калибровки при постоянной напряженности поля
Постоянную напряженность испытательного поля в плоскостиоднородного поля устанавливают с
использованием калиброванной измерительной антенны (датчика) последовательно на каждой изчас-
8