ГОСТ 17816.15-90 С. 5
4.3. Электрод со смесью графита с буфером укрепляют в ниж
нем зажимештатива, а конусообразный электрод — в верхнем
зажиме. Расстояние между электродами во время съемки 2,5— 3
мм. Сила тока дуги 10 А. Время экспозиции 40 с. На среднем
конденсоре устанавливаютпрямоугольную диафрагму высотой
2 мм. Ширина щели спектрографа 0,015—0,020 мм. Ширина щели
спектрографа может быть несколько изменена в соответствии с
используемым прибором.
4.4. Каждую смесь графита с буфером и образцы сравнения
с буфером сжигают по три раза на одной пластинке.
4.5. Фотопластинку обрабатывают в строго постоянных усло
виях:
температура проявителя — 20—22 °С;
время проявления — согласно указанному на упаковке фото
пластинок;
гшемя закрепления— 10 млн.
Промывают фотопластинку в проточной воде в течение 15 мин»
ополаскивают дистиллированной водой и сушат.
4.6. Послеобработки фотопластинки фотометрнруют линии,
указанные в табл. 1. Аналитические линии находят по атласу
спектральных линий с помощью спектропроектора.
Таблица 1
Д л и н * м н и а н а л н гя ч еск оЛ « и д т и , и м
М а с с о в а я д о х а
о п р е д е л я е м о го эл ем ен та
а гр а ф и те
о п р е д е л я е м о го
э л с х с е т
а
/л с м е л т а с р а з х е в а я
Ge 259.254
Si 251.611
Si 252.851
Ge 259.254
От 0.0003 ДО 0.01
>
0,001 * 0.1
Si 251,921
Ge 259.254
0.01
1.0
Си 324,754
Ge 303906
»
0.03
>
0.01
Си 282,437
Nt 305.082
Ni 299.259
Ge 270,963
Ge 303.905
Ge 303.905
Ge 207963
0.0003
»
Ge 241.737
*
0.01
Ge 303.906
»
»
0.1
Pb 283.307
Со 242.493
Со 308.678
As 234.984
As 286.045
Ge 241.737
Ge 270.963
0.03
»>
* 0.01
0!
> 1.0
> 0.С003 > 0,01
»
0.003 * 0.1
»
0.0003
*
0,01
»
0.003
»
0.1
»
0.003
*
0.1
5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
5.1. Разность почернений (AS) линии определяемого элемента
и линии сравнения вычисляют по формуле
A
S=Scpp—Sot,
где 5„Пр — почернение линии определяемого элемента;
So. — почерненне линии сравнения (германия).
С5