ГОСТ Р 70144—2022
Схожее колебательное поведение можно наблюдать в случае фиксированного значения длины волны для
изменяющегося значения радиуса и/или для изменяющейся температуры; в этом случае также возможно приме
нение методики аппроксимации:
- потери, вызванные изгибом (дБ) = Аеа’
\
потери, вызванные изгибом (дБ) = Ве-Вг.
Вследствие статистической природы (до некоторой степени) явления интерференции рекомендуется про водить
аппроксимацию кривой от точки начала потерь, вызванных изгибами ОВ, для установленной длины волны. Для
оптимизации аппроксимирующей кривой по данным измерения используют разные методы. Хорошо известен
метод наименьших квадратов, при использовании которого минимизируется сумма квадратов разностей между
измеренным и аппроксимированным значениями. В других случаях, например, минимизируют «среднее ми нус
медианное» — разность между измеренным и аппроксимированным значениями или минимизируют «среднее» или
«медианное» между измеренным и аппроксимированным значениями. Для аппроксимации кривой могут ис
пользоваться такие инструменты, как Excel Solver.
Если вышеуказанным методом не удается получить аппроксимирующую кривую, то используют другие ме
тоды:
у
= АаХ,
(D.1)
где у — потери, вызванные изгибами, дБ.
Для представления аппроксимирующей кривой в виде линейного графика берут натуральный логарифм от
левой и правой стороны вышеуказанной формулы
ln[y] =
аХ
• In
A,
(D.2)
где у — потери, вызванные изгибами, дБ.
Построение аппроксимирующей кривой в виде линейного графика с использованием метода наименьших
квадратов дает возможность использования относительно простого аналитического выражения. Это выражение
упрощает расчеты в реальном времени аппроксимирующих коэффициентов при проведении измерения. Недо
статком данного метода вследствие применения натурального логарифма является то, что предпочтение отдается
измеренным значениям для более низких значений длины волны, в то время как для анализа представляют инте рес
области больших значений длины волны, например 1550 нм и 1625 нм. Данная проблема может быть решена с
использованием метода взвешенных наименьших квадратов, при котором значениям потерь для больших длин
волн соответствуют большие весовые коэффициенты.
Все описанные методы обеспечивают хорошую корреляцию аппроксимированных графиков с измеренными
значениями. Более важно, что из этих графиков можно получить с достаточной точностью значения потерь, вы
званных изгибами, для установленных значений длины волны, например 1550 нм и 1625 нм.
Интерференция между фундаментальной модой и модами в оболочке и поглощающем покрытии может быть
устранена путем измерения потерь в ОВ, имеющем изгибы, при его погружении в жидкость, имеющую показатель
преломления выше, чем показатель преломления наружного покрытия ОВ. При проведении измерений в таких
условиях можно получить хорошие результаты измерения собственных потерь ОВ вследствие изгибов, которые
могут использоваться для оценки методов оптимизации аппроксимирующей кривой.
Точность аппроксимации кривой зависит от диапазона длин волн, используемого при измерениях, и общего
количества полученных точек. Большее количество точек повышает точность аппроксимации. При этом на измере
ния, по результатам которых получены эти точки, не должны влиять вводимые моды высоких порядков.
D.3 Поляризационные эффекты
При измерении потерь, вызванных макроизгибами при очень малых значениях радиуса изгиба, поляризация
распространяющегося или излучаемого света может влиять на результат измерения. Так как свет, выходящий из
волокна, несколько раз отражается от разных границ раздела (например, оболочка — покрытие, покрытие — воз
дух, покрытие — контактирующие материалы), то поляризация в некоторой степени может присутствовать даже
при использовании неполяризованных источников света. Такие потери, вызываемые поляризацией (PDL), являют ся
функцией от значения длины волны и должны учитываться при сравнении результатов, полученных при разных
измерениях или в разных лабораториях.
D.4 Повреждения, вызываемые высокой мощностью излучения источника
В некоторых экстремальных условиях (очень высокая мощность излучения источника, очень крутые изгибы)
температура покрытия и стекла может подниматься до очень высоких значений, в конечном итоге приводя к раз
рушению покрытия и стекла. Однако данные экстремальные условия не являются типовыми при развертывании и
эксплуатации стандартных телекоммуникационных сетей. Подробная информация об этом явлении приведена
в [4].
20