ГОСТ МЭК 730-1—95/ГОСТ Р МЭК 730-1-94
- или (при отсутствии специальных образцов, которые необходимы Согласно указанному пункту,
или при отсутствии очевидности, что материал выдерживает испытание, или если специальные
образцы не выдерживают испытание) испытание раскаленной проволокой по пункту G2приложения G
при температуре 550 “С.
Г1римс ма ние —Если иное не указано встандарте на конкретное устройство, диафратмы. прокладки,
уплотнительные кольца сальников нс подвергают испытанию но настоящему пункту.
21.2.5 Первое испытание давлением шарика
Испытание давлением шарика проводят с помощью устройства, приведенного на рисунке 6.
Предварительно части, подвергаемые испытанию, выдерживают в течение 24 ч в атмосфере,
имеющей температуру от 15 до 35 "Си относительную влажность от 45 % до 75 %.
Поверхность части, подвергаемой испытанию, размещают горизонтально и давят на нее силой
20 В с помощью стального шарика диаметра.и 5 мм. Толщина образца должна быть не менее 2.5 мм;
при необходимости угадывают два или базее слоев части, подвергаемой испытанию.
Испытания проводят и термокамере при наибольшей из температур:
на (20±2) ’С 1(15±2) ’С — для устройств, предназначенных для встраивания в приборы, входящие
в область распространения ТОСТ 27570.0/ больше максимальной температуры, измеренной при испы
таниях по разделу 14;
(75±2) *С;
при температуре в соответствии с декларацией.
Перед началом испытаний подставка и шарик должны иметь указанную температуру.
Через 1 ч шарик извлекают из образца, образец охлаждают приблизительно до температуры
помещения путем погружения его на 10 с в холодную воду. Диаметр отпечатка шарика не должен
превышать 2 мм.
П р и м е ч а н и е —Испытание нс проводят на частях, наготовленных ид керамических материалов.
21.2.6 Второе испытание давлением шарика
Испытание проводят по 21.2.5, но температура в термокамере должна составлять (Ttj±2) “С,
где Ть равно большему из значений:
ИХ) ’С, еаи Ттлх составляет 30 *С и выше, но не превышает 55 “С;
125 ’С для устройств, предназначенных для встраивания в приборы, входящие в область распро
странения ТОСТ 27570.0 (за исключением встраиваемых в шнуры), и для других устройств, ког<)и Ттл%
составляет 55 *Си более, но не превышает 85 ’С;
(Tutx + 40 ‘С), ест TmiX = 85 X и более;
на 20 *С больше максимальной температуры, достигнутой при испытаниях по разделу 14, если
при этом получают более высокое значение температуры.
П ри м с ч а и и с —Испытание нс проводят на частях, изготовленных из керамических материалов.
21.2.7 Стойкость к образованию токоведущих мостиков
Все неметаььшческие части, для которых определены пути утечки между токоведущими частями
различной полярности, между токоведущими частями и заземленными металлическими частями и
между токоведущими частями и доступными поверхностями (если это требуется по разделу 20).
должны быть стойкими к образованию токоведущих мостиков в соответствии с декларацией.
П р и м е ч а н и е —Требования даны в стандартах на конкретное устройство или оборудование.
Устройства, предназначенные дляработы при сверхнизком напряжении, не подвергают испытанию
на стойкость к образованию токоведущих мостиков.
П р и м е ч а н и е —Внутри устройства различные части могут иметь различные значения КИТ в
соответствии с микроусловиями окружающей среды.
Соответствие требованию проверяют испытаниями по пункту G4 приложения G. проводимыми
при следующих напряжениях. В:
НЮ
175
250
400
600.
83