(Продолжение Изменения№ 3 к ГОСТ Р 51756—2001)
Пункт 8.3 дополнить абзацем:
«Площадь дефектов измеряют в соответствии с методикой, приве
денной в приложении В».
Пункт 9.2. Третий абзац изложить в новой редакции:
«13 зависимости от способов складирования и транспортирования ре
комендуется укладывать пакеты с банками нс более чем в четыре ряда
по высоте, пакетов с крышками — не более чем в два ряда по высоте»;
дополнить аб зацем:
«Банки должны быть защищены от прямого воздействия солнечного
света».
Приложение А. Таблица I. Для контролируемого показателя «Каче
ство наружного покрытия» графу «Вид дефекта» дополнить наименова
нием дефекта «Потертости» (после дефекта «Пузыри») и соответствую
щими значениями:
Контролиру
емый
показатель
Вид
дефекта
Категория дефектов и соответствующие им значе
ния AQL
КритическиеЗначительныеМалозначитсльныс
AQL = 0.25
%
AQL = 1,5
%
AQL = 4,0 %
Качество
наружного
покрытия
Потер
тости до
металла
Общей пло
щадью исти
ранияболее
5 мм2
Общей площа
дью истирания
от 3 до 5 мм2
Стандарт дополнить приложением —В:
«ПРИЛОЖЕНИЕ В
(справочное)
1 Площадь дефектов измеряют при помоши сетки 1 I мм, которая
нанесена на гибкую прозрачную пленку линией толщиной 0,05 мм.
2 Для проведения измерения пленку накладывают на измеряемый
дефект таким образом, чтобы на повреждении оказалось максимальное
число целых клеток сетки (см. рисунок).
(Продолжениесм. с. 24)