ГОСТ Р 57421—2017
6.2.2Тесты ОД (функциональные тесты) можно также получить путем использования логических
анализаторов. При этом ЦЭМ представляется как «черный ящик» без учета его внутреннейструктуры и
особенностей функционирования. Получаемый таким образом функциональный тест характеризуется
лишьсовокупностью входныхвоздействийХ(см. формулу 1)и соответствующимей множествомэталон
ных откликов Z (см. формулу 3). Вышеупомянутый функциональный тест формируется в процессе
использованияОД визделии, составной частью которогоон является. Вштатном режиме функциониро
вания изделия с входов и выходов ОД снимается информация, которая и является представлением
модели ОД. Схема получения функционального теста ОД представлена на рисунке 2.
Функциональный тест
Рисунок 2 — Схема получения функционального теста с помощью логического анализатора
Данный способ крайне сложенс технической точки зрения и используется крайне редко.
6.2.3Третий способ формирования теста устройства основан на компьютерном моделировании
ЦЭМ. Вэтом случае при создании теста вместо реального ОД используется его компьютерная модель.
При тестировании ЦЭМдостаточнолокализациинеисправностей на уровне корпусовкомпонентов
ЦЭМ. так кактолько они подлежат замене при проведении ремонта ОД. Всвязис этимдля моделирова
ния достаточно использовать поведенческие модели (HDL-модели), создаваемые с помощью языков
описанияаппаратуры, например Verilog или VHDL.
Наиболее предпочтительными способами создания тестов ЦЭМ являются способы, основанные
на компьютерном моделировании. Это связано с тем. что моделирование в отличие от других способов
позволяет:
- получать эталонную информацию о значениях цифровых логических сигналов в любой момент
выполнения тестов;
- получать эталонные временныедиаграммы цифровых сигналовв любой точке ОД;
- осуществлять предварительную оценку качестватестов.
Еще одним преимуществом компьютерногомоделирования являетсяавтоматическое построение
HDL-моделей ОД. Оноосуществляется на основании автоматическогоанализа электронного представ
ления принципиальной схемы ОД. которую можно представить в виде графа, представленного
на рисунке 3.
Исходнымиданнымидля автоматического построения HDL-модели ОД являются:
а) схема связей компонентов (Netlist), таких как процессоры. ИМС, ПЛИС, микросхемы памяти и
т. д.. входящих в состав ОД;
б) HDL-модели компонентов ОД.
Для того чтобы воспользоваться преимуществами моделирования, необходимо, чтобы модель
была адекватна реальному объекту. Проверка этого свойства HDL-модели ОД проводится с помощью
АТО, котороепозволяетсразуоценитьадекватностьмоделиОДприменительнокиспользуемомутесту.
4