ГОСТ Р 57421—2017
гдеХ1=(х,1,хс,...,х„);
б) считывание с выходов ОД последовательности (множество У)пфактическихответов (реакций)
У,.каждый из которыхсодержитb двоичных элементов:
Y=(Y„Y2
.....
УД(2)
где У,=
(уп, ув
...уЛ);
в) сравнениеп реакций У,сл эталонными откликами Z из множества Z:
2
Z=(Z,.Z
......
Z„),(3)
гдеZ^=(z,, zi2,
Схема использованияATO представлена на рисунке 1.
Результат
теста
П р и м е ч а н и е — Множество (X. Z) представляет собой тест конкретного ОД.
Рисунок! — Схема использования АТО для тестирования ОД
ЦЭМкакОДследуетпредставлятькакнабор взаимосвязанныхцифровыхэлементов(ИМС, ПЛИС,
микропроцессоров и т. д.), каждый из которых функционирует по собственному алгоритму. Для восста
новления работоспособности ОД координаты любой неисправности требуется определятьсточностью
до корпусов цифровыхэлементов ОД. которые в этом случае подлежат замене.
При составлении теста ОД необходимо учитыватьследующие допущения:
a) модуль разработан в полном соответствии с его функциями, состоит только из цифровых эле
ментов, его схемные решения не содержат ошибок, в том числе связанных с временными задержками
элементов;
b
) модуль, изготовленный в полном соответствии с технической документацией на него и без
производственного брака, считается работоспособным.
Тестдолжен проверятьисправностьэлементов, входящихвсостав ОД, целостностьсвязей между
элементами и отсутствие дополнительных «паразитных» связей внутри ОД. Иными словами, тест про
веряетлогику работы ОД.
Построение теста ОД (X. Z) должно заключаться в поиске таких последовательностей входных
воздействий X. при которых порожденные ими внутренние сигналы ОД проходят со входа на выход ОД
через егокомпоненты. Впроцессеэтого тест должен инициировать максимально возможное количество
неисправностей, которые должны проявиться на выходах ОД. Качество теста определяется долей
обнаруживаемых им неисправностей.
6.2 Способы построения тестовых программ
6.2.1Один из первых способов создания тестов заключается в формировании входных воздей
ствий для ОД. Как правило, входные воздействиядля ОД устанавливают таким образом, чтобы наибо
лее полнопроверитьфункциональностьОД. Эти воздействия подаются на заведомо исправный ЦЭМ. а
всереакции ОД У(см. формулу2) запоминаются (для исправныхОД У=Z). Извышеупомянутыхвходных
воздействий наОДХ(см. формулу 1)и соответствующихим реакцийОДZ (см. формулу3)формируются
тесты.
з