Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 29.12.2025 по 04.01.2026
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р ИСО/МЭК 24789-2-2016; Страница 10

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р ИСО/МЭК 11694-2-2016 Карты идентификационные. Карты с оптической памятью. Метод линейной записи данных. Часть 2. Размеры и расположение оптической зоны Identification cards. Optical memory cards. Linear recording method. Part 2. Dimensions and location of the accessible optical area (Настоящий стандарт устанавливает требования к размерам и расположению оптической зоны на картах с оптической памятью формата ID-1, для которых используют метод линейной записи данных (далее карты)) ГОСТ 12.4.306-2016 Комплект экранирующий для защиты персонала от электромагнитных полей радиочастотного диапазона. Методы испытаний Occupational safety standards system. Shielding set for personal protection from radiofrequency electromagnetic field exposure. Test methods (Настоящий стандарт устанавливает методы контроля эффективности экранирования средств индивидуальной защиты (далее - СИЗ) - экранирующих комплектов, предназначенных для защиты работников от воздействия электромагнитных полей (ЭМП) радиочастотного диапазона и методы контроля эффективности экранирования материалов, используемых для изготовления экранирующих комплектов. Оценка коэффициента экранирования проводится в диапазоне частот от 30 кГц до 60 ГГц) ГОСТ 12578-2016 Сахар кусковой. Метод определения мелочи (осколков и кристаллов) Sugar lump. Method for determination of small lumps (sugar scraps and crystals) (Настоящий стандарт распространяется на кусковой белый и другие виды сахара и устанавливает гравиметрический метод определения мелочи (осколков и кристаллов))
Страница 10
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р ИСО/МЭК 24789-22016
Закрепляют карту на поворотной платформе без какой-либо податливой подкладки. Добавляют
заменителькарты тойжетолщины, что икарта, изготовленная из пластиныдля полученияобразцов, так
чтобы абразивные круги не подпрыгивали при выполнении процедуры. Опускают абразивные круги
дополнительными грузами) на карту, а сопло вакуумной системы располагают над картами на расстоя
нии 6.4 мм (0,25дюйма).
Настраиваютиспытательныйприборна 50циклови запускают испытательный приборивакуумную
систему. Следует убедиться, что абразивные кругине подпрыгивают во время испытания.
Снимают карту и тщательно очищают магнитную полосу, используя мягкую чистую ткань, чтобы
удалить посторонние частицы.
П р и м е ч а н и е 2 Следует особо проследить, что полоса полностью свободна от частиц, чтобы избе
жать повреждения магнитной головки, используемой при измерении амплитуды сигнала.
Сноваизмеряютсреднююамплитудусигнала(UA)вобластисчитывания, показанной нарисунке2.
Повторяют последовательность из 50 циклов истирания, сопровождая ее измерением средней
амплитудысигнала(UA)в области считывания, показаннойнарисунке2,до техпор, поканебудетдостиг
нутозначение 1/д,при котором UA^0,70 l/A|nrtia|.Процедураможетбытьостановленапослепрохождения
5000 циклов Табера без достижения UA £0.70 UAinilial.
5.3.3 Оформление результатов оценки
Если не указано иное в базовом стандарте, то записываютсреднее число циклов истирания (с точ
ностью до 50 циклов), которые потребовалисьдля получения Од £ 0.70 UAinitia|.
П р и м е ч а н и е Графическое представление результатов (зависимостьсредней амплитуды сигнала от
циклов истирания) показало, что оно полезнодля демонстрации характеристик абразивного износа.
5.4 Адгезия ICM
Цель данного метода установить, что между картой и ICM IC-карты с контактами существует
достаточнаясила сцепления.
5.4.1 Средства испытания
Устройство для испытания IC-модуля показано на рисунке 3.
Ри тр ы■миллиметрах(дюйма)
ГЪлсявмп O J
А - 2.00 (GДИ)
Устройство состоит из полуцилиндра на прямоугольном блоке (не полусфера на цилиндре).
Рисунок 3 — Устройство для испытания 1С-модуля
5.4.2 Порядок проведения испытания
Помещают короткий край ICC, ближайший к ICM. в захват испытательногоустройства.
6