ГОСТ IEC 61000-4-3— 2016
П р и м е ч а н и е 2 — При размещении антенны е каждом из выбранных положений должна быть проведена
полная калибровка испытательного поля.
Концепции полного и частичного облучения, а также их применимость и способы применения по
казаны в таблице 2.
Т а б л и ц а 2 — Требования к плоскости однородного поля для применения методов полного облучения, частич
ного облучения и независимых окон
Частота испы
таний
Требования к размерам и калибровке плоскости однородного поля
Лицевая сторона ИО полностью покрыта плоско
стью однородного поля (предпочтительный метод
полного облучения)
Лицевая сторона ИО не покрыта полностью пло
скостью однородного поля (альтернативные мето
ды частичного облучения и независимых окон)
Менее 1 ГГц
Минимальные размеры плоскости однородно
го поля должны быть 0,5 * 0.5 м.
Размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом точек калибровочной сетки,
отстоящих друг от друга на 0.5 м (т. е. должны
быть: 0.5 к 0.5 м; 0.5 * 1,0 м; 1.0 * 1.0 м и т. д.). Для
плоскости однородного поля размерами более
0.5 * 0.5 м напряженность поля в 75 % точек
измерения должна находиться в установ ленных
пределах. Для плоскости однородного поля
размерами 0.5 * 0.5 м напряженность поля во
всех точках измерения должна нахо диться в
установленных пределах
Применяют метод частичного облучения.
Минимальные размеры плоскости однород
ного поля должны быть 1.5 * 1.5 м.
Размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом точек калибровочной сетки,
отстоящих друг отдруга на 0.5 м (т. е. должны
быть: 1.5 * 1.5 м; 1.5 * 2.0 м; 2.0 * 2.0 м ит.д.).
Напряженность поля 75 % точек измерения
должна находиться е установленных пределах
Свыше 1 ГГц
Минимальные размеры плоскости однородно
го поля должны быть 0.5 * 0.5 м.
Размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом точек калибровочной сетки,
отстоящих друг от друга на 0.5 м (т. е. должны
быть: 0.5 * 0.5 м: 0.5 * 1.0 м; 1.0 * 1,0 м и т. д.). Для
плоскости однородного поля размерами более
0.5 * 0.5 м напряженность поля 75 % то чек
измерения должна находиться в установ
ленных пределах. Для плоскости однородного
поля размерами 0.5 * 0.5 м напряженность
поля во всех точках измерения должна нахо
диться е установленных пределах
Применяют методы частичного облучения и
независимых окон.
При применении метода независимых окон
размер окна должен быть 0.5 * 0.5 м (см. при
ложение Н).
При применении метода частичного облучения:
- минимальные размеры плоскости однород
ного поля должны быть 1.5* 1.5 м;
- размеры плоскости однородного поля опре
деляются числом тенек калибровочной сетки,
отстоящих друг отдруга на 0.5 м (т. е. должны
быть: 1.5* 1.5 м; 1.5 * 2.0 м; 2.0 * 2.0 м ит.д.); -
напряженность поля 75 % точек измерения
должна находиться в установленных пределах
Если в полосе частот свыше 1 (Тц требования настоящего подраздела могут быть выполнены
только на частотах не выше конкретной частоты, например если ширина диаграммы направленности
излучающей антенны недостаточна для облучения всей поверхности ИО. то для более высоких частот
применяют метод независимых окон по приложению Н.
Калибровку поля в безэховых и лолубезэховых камерах, как правило, проводят с помощью из
мерительной установки, представленной на рисунке 7. Калибровку всегда следует проводить при не-
модулированной несущей для горизонтальной и вертикальной поляризаций испытательного поля в со
ответствии со значением шага изменения частоты, указанным ниже. Значение напряженности поля при
калибровке должно быть по крайней мере в 1,8 раза больше значения напряженности поля, которое
будет воздействовать на оборудование при проведении испытаний, чтобы обеспечить прохождение
через усилители модулированного сигнала в отсутствие насыщения.
Если обозначить напряженность поля при калибровке £с, то напряженность испытательного поля
£, не должна превышать £ с /1,8.
П р и м е ч а н и е — Могут быть использованы другие методы предотвращения насыщения.
Ниже приведены два разных метода калибровки испытательного поля. В качестве примера рас
сматривается измерительная сетка, состоящая из 16 точек измерения (размеры плоскости однородно го
поля 1.5 * 1.5 м). При правильном применении оба метода обеспечивают одинаковую однородность
испытательного поля.
8