ГОСТ IEC 61000-4-3—2016
антенн и кабелей (насколько это практически возможно). При проведении испытаний антенны и кабели
должны быть размещены так же. как и при калибровке поля. Незначительные их смещения оказывают
существенное влияние на испытательное поле.
Установлено, что полную калибровку испытательного поля следует проводить один раз в год.
а также при каждом внесении изменений в конфигурацию безэхоеой камеры (перемещении радиопо
глощающего материала, изменении состава оборудования и т. д.). Перед каждой группой испытаний
необходимо проводить проверку калибровки испытательного поля (см. раздел 8).
Излучающую антенну размещают на таком расстоянии от ИО, чтобы калибруемая плоскость
однородного поля находилась в главном лепестке диаграммы направленности антенны. Датчик поля
должен быть расположен на расстоянии не менее 1 м от излучающей антенны. Предпочтительное рас
стояние между излучающей антенной и плоскостью однородного поля должно быть 3 м. Это расстояние
отсчитывают от центра биконической антенны, конца логопериодической антенны и плоскости раскры-ва
рупорной или волноводной антенны. Расстояние между излучающей антенной и плоскостью одно
родного поля должно быть указано в отчете об испытаниях и в протоколе калибровки.
Размеры плоскости однородного поля с ее нижним краем, установленным на высоте 0.8 м над по
лом. должны быть по меньшей мере 1.5 * 1.5 м. за исключением случаев, когда ИО и соединительные
кабели могут быть полностью «освещены» при использовании плоскости однородного поля меньших
размеров. Минимальные размеры плоскости однородного поля должны быть 0,5 * 0.5 м.
Лицевая сторона ИО. подвергаемого воздействию испытательного поля, должна совпадать с пло
скостью однородного поля (см. рисунки 5 и 6).
Для установления жесткости испытаний ИО и соединительных кабелей, которые должны быть ис
пытаны при близости к полу (опорной пластине заземления), напряженность поля должна быть допол
нительно зафиксирована на высоте 0.4 м. Полученные данные документируют в протоколе калибровки, но
не учитывают при оценке пригодности испытательной установки и в базе данных калибровки.
Из-за отражений от пола в полубезэховой камере трудно установить плоскость однородного поля
вблизи опорной пластины заземления. Для решения этой проблемы размещают на пластине заземле ния
дополнительный радиопоглощающий материал (см. рисунок 2).
Измерение напряженности поля в плоскости однородного поля проводят в точках измеритель
ной сетки, разнесенных друг от друга на расстояние 0.5 м (см. рисунок 4. представляющий собой при
мер плоскости однородного поля размерами 1.5 * 1,5 м). Испытательное поле считают однородным,
если на каждой частоте измерений его напряженность, измеряемая в плоскости однородного поля
для 75 % поверхности (например, в 12 точках измерения из 16 для плоскости однородного поля
размерами 1.5 * 1.5 м). находится в пределах от 0 до плюс 6 дБ от заданного значения. Для минимальных
размеров плоскости однородного поля 0.5 х 0.5 м отклонения измеренной напряженности поля в
четырех точках калибровочной сетки от заданного значения должны быть в указанных выше пределах.
П р и м е ч а н и е 1— Для различных частот в пределах указанных отклонений могут находиться результаты
измерений, полученные в различных точках измерительной сетки.
Отклонение от 0 до плюс 6 дБ установлено с тем. чтобы напряженность поля не была ниже номи
нальной с приемлемой вероятностью. Значение 6 дБ выбрано как минимально достижимое для прак
тически применяемых средств испытаний.
На частотах испытаний менее 1 ГГц допускают отклонение более плюс 6 дБ. но не более плюс
10 дБ для 3 % частот, проверяемых при испытаниях (отклонение менее 0 дБ не допускается). При этом
значения отклонений должны быть отражены в отчете об испытаниях. В случае расхождений
резуль татов испытаний, полученных при различных отклонениях напряженности поля, преимущество
имеют результаты испытаний, полученные при отклонениях от 0 до плюс 6 дБ.
В случае если лицевая сторона ИО. подвергаемая воздействию поля, имеет размеры более
1.5 х 1,5 м и метод применения плоскости однородного поля достаточных размеров (предпочтительный
метод облучения) не может быть применен. ИО облучают в серии испытаний с применением
метода частичного облучения.
Для применения метода частичного облучения:
- калибровку испытательного поля допускается проводить при различных положениях излучаю
щей антенны, с тем чтобы обеспечить покрытие всей лицевой поверхности ИО плоскостью однород
ного поля в серии испытаний. Испытания ИО в этом случае следует проводить при последовательном
расположении антенны в каждом из этих положений:
- ИО допускается перемещать при испытаниях так. чтобы каждая часть его лицевой поверхности
находилась в пределах плоскости однородного поля во время, как минимум, одного из испытаний.
7