Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 56811-2015; Страница 51

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ Р 56853-2016 Оценка соответствия. Требования к органам, проводящим аудит и сертификацию систем менеджмента. Часть 3. Требования компетентности для проведения аудита и сертификации систем менеджмента качества Conformity assessment. Requirements for bodies providing audit and certification of management systems. Part 3. Competence requirements for auditing and certification of quality management system (Настоящий стандарт дополняет требования, которые содержатся в ИСО/МЭК 17021. Он включает в себя специальные требования к компетентности персонала, участвующего в процессе сертификации систем менеджмента качества (СМК)) ГОСТ Р 56812-2015 Композиты полимерные. Метод определения механических характеристик при комбинированной сжимающей нагрузке Polymer composites. Method for determination of mechanical characteristics in combined loading compression (Настоящий стандарт распространяется на композитные материалы с полимерной матрицей, армированные непрерывными или рублеными волокнами. Стандарт устанавливает метод определения упруго-прочностных характеристик при статическом сжатии образцов путем приложения комбинированной нагрузки. Настоящий метод испытаний устанавливает процедуру определения прочности при сжатии и характеристики жесткости композитных материалов с полимерной матрицей, используя испытательное приспособление с комбинированной нагрузкой сжатия или аналогичное испытательное приспособление. Данный метод испытаний применим к обычным плоским слоистым (или дискретно армированным) материалам, которые сбалансированы и симметричны и содержат минимум один слой c ориентацией 0°) ГОСТ 8.576-2001 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений потока электронов, плотности потока электронов и флюенса (переноса) электронов, потока энергии, плотности потока энергии и флюенса (переноса) энергии электронного и тормозного излучений State system for ensuring the uniformity of measurements. State verification schedule for means measuring flux, flux density and fluence of electrons, energy flux, energy flux density and fluence of energy of electrons and bremsstrahlung radiation (Настоящий стандарт распространяется на государственную поверочную схему для средств измерений потока электронов, плотности потока электронов и флюенса (переноса) электронов, потока энергии, плотности потока энергии и флюенса (переноса) энергии электронного и тормозного излучений с энергией от 0,1 до 50 МэВ и устанавливает порядок передачи размеров единиц: . потока электронов - электрон в секунду, с в минус первой степени;. плотности потока электронов - электрон в секунду на квадратный сантиметр, с в минус первой степени см в минус второй степени;. флюенса (переноса) электронов - электрон на квадратный сантиметр, см в минус второй степени;. потока энергии электронного и тормозного излучений - ватт, Вт;. плотности потока энергии электронного и тормозного излучений - ватт на квадратный сантиметр, Вт Х см в минус второй степени;. флюенса (переноса) энергии электронного и тормозного излучений - джоуль на квадратный сантиметр, Дж Х см в минус второй степени от государственного первичного эталона при помощи вторичных и рабочих эталонов рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки )
Страница 51
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 568112015
01001001110010010010011110001
WlOOIOWttlOIOI 0101010000000
«101010001100110011001«0110
ТЮ01100000110111100011100000
W1010W1010101010W101010101
01101000101D1DO1O1O1QD1010010
«111010001010101010101010001
11010101000101001010010101000
0010100100100101100011110101Q
11100101001010101010000111100
00111000100010101010101010101
111100010101010101000101QQ0Q1
10«tl1Q1Q10«1010fM00011110
00101010010001010011001010001
10110010100101010101001010001
Рисунок ДЕ.2 — Распределение двоичных данных в пиксельной матрице (двоичная матрица 3 *3 )
Разрешение изображения определяется размером пикселя, но размер отдельных люминофорных кристал
лов. толщина люминофорного слоя ФЗП. размер лазерного пятна и оптика также влияют на качество изображения;
- на этапе 6 применяются компьютерные алгоритмы (ряд математических функций), которые подходят для
двоичных пиксельных данных с произвольными файлами (которые называются копировочными таблицами), для
присвоения индивидуальных уровней шкалы серого для пикселей;
- на этапе 7 используется программное оборудование для преобразования шкалы серого двоичной матрицы
в первоначальное изображение. Затем первоначальное изображение выводят на электронный дисплей монитора
или на принтер. Полученное в результате цифровое изображение имеет «негативные» тона. После визуализации
цифрового изображения могут применяться дополнительные методы обработки изображения (см. ДЕ.З)для даль
нейшего увеличения характеристик исследуемого образца для контроля и завершения процесса оценки;
- на этапе 8 цифровые изображения и сопутствующая информация в электронном виде могут быть сохране
ны на оптических, магнитных или печатных носителях для дальнейшего использования.
ДЕ.2 Основы компьютерной радиографии
ДЕ.2.1 Уровень облучения и качество изображения
Качество изображения компьютерной радиографии прямо пропорционально количеству значимой дозы об
лучения. полученной ФЗП. Уровень облучения наиболее эффективно определяется с помощью измерения линей
ного пиксельного значения в исследуемой области изображения, подобно измерению оптической плотности для
пленочной радиографии с применением денситометра. Для цифрового «негативного» изображения более темное
пиксельное значение означает большее количество излучения, достигшее этого пикселя (на подвергнутой скани
рованию ФЗП). чем более светлое пиксельное значение.
На рисунке ДЕ.З представлена типичная зависимость облучения от пиксельного значения.
П тя го ю значение
4095
П32
ПЭ1
Рисунок ДЕ.З — Зависимость облучения от пиксельного значения
48
О
Дои 1 Дои 2Облучение
Г "
!
110 110 101
110 110 101
101 110 101
L .
_