ГОСТ Р 56528—2015
AJ. г/см2
■о-тИ
--------
р - тй
Рисунок В.4
LgАЕ)
КЮАВДИЫИГо\С1
Конечный спектр /,(£)
30 кэв - имитационные . .£.
Z
200 кэВ - натурные 0
Z
::Г М£)
Е. кэВ
Экран
Рисунок В.5
В.2.3.3 Для многослойных экранов применяют методикупарциальных вкладов потерь в каждом слое приве
дением к эквиваленту эталона AI для оценки прошедшего внутрь корпуса БА эффективного потока облучения, воз
действующего на БА КА. При прохождении экрана тах(/0) исходный энергетический спектр частиц смещается
соответственно части потерь низкоэнергетичных частиц и нормализуется столкновительной термализацией
(см. рисунок В.5). Для анализа эффектов внутренней электризации элементов за экраном исходный спектр потока
можно заменить моделью спектра частиц, прошедших экран.
В.2.4 Частицы высокой энергии могутпроходить сквозь экран ЭВТИ (см. рисунки В.4. В.5). производя различ
ные эффекты электризации. На рисунке В.6 показан пример внутренней электростатической зарядки толстогоди
электрика корпуса прибора БА. залитого компаундом, установленного снаружи корпуса КА и защищенного
металлизированными матами ЭВТИ. с обозначением разрядоопасных мест на корпусе прибора БА (пози
ции А,—А4).
Пленка ЭВТИ может «прилипать» к заряженному диэлектрику, образуя электрический контакт (см. рису
нок В. 14. а)с частым слабым искрением с корпуса КА напленку ЭВТИ. подобно пробоям с изоляции на оплеткукабе
ля. Для участков с пустотами возможны разряды с острых кромок на близкие металлизированные элементы,
например, на пленку ЭВТИ. После пробоя плазма, заполняя все вакуумное пространство подпленкой, обеспечива
етвозможность сброса зарядов на металлизацию ЭВТИ со всей поверхности диэлектрика. При этом импульс индук
ции может иметь уровень 15—50 В.
13