ГОСТ Р МЭК 60810—2015
СД источники света, которым требуются дополнительные приспособления для теплового регули
рования, испытывают вместе с этими приспособлениями. Описание конструкции приспособлений для
теплового регулирования должно быть включено в протокол испытаний.
А — начало первого цикла
Рисунок 7 — Выдержка из МЭК 60068-2-14, показывающая вид температурного цикла
при испытании по методу Nb
После испытания на термоциклирование измеряют электрические и световые параметры СД ис
точников света.
СД источники света считают выдержавшими испытание, если они продолжают функционировать
после испытания, а их световые и электрические параметры находятся в пределах, заявленных изго
товителем.
Значения основаны на уровне несоответствия 10 %.
8 Требования и методы испытаний для корпусированных светодиодов
8.1 Квалификация корпусированных светодиодов по результатам испытаний
на воздействие внешних факторов
В разделе 81>определены минимальные квалификационные требования, обусловленные испы
таниями на воздействие внешних факторов, и заданы условия испытаний для квалификации корпуси
рованных СД.
Цель данной спецификации — определить способность корпусированного СД выдерживать ис
пытания на воздействие внешних факторов и таким образом обеспечивать определенный уровень ка-
чества/надежности автомобильного освещения.
Квалификация по результатам испытаний на воздействие внешних факторов согласно настояще
му стандарту определяется как успешное выполнение требований испытаний, изложенных в настоя
щем стандарте.
В 8.6 определен комплекс квалификационных испытаний, на основе которого проводят квалифи
кацию новых корпусированных СД. В случае переквалификации, связанной с изменением конструкции
или технологического процесса, он может быть сокращен (см. приложение L).
В обоснованных случаях проводят квалификацию серии, обоснование должен дать поставщик.
Примеры обоснования компоновки серии:
- одна и та же технология изготовления чипа применена для разных корпусированных СД;
- одна и та же система люминофоров использована в разных корпусированных СД.
В настоящем стандарте имеются ссылки на стандарты МЭК или стандарты других организаций
(например. JEDEC). В этих случаях дальнейшие сведения по испытаниям находят в ссылочных стан
дартах. Условия испытаний по настоящему стандарту могут отличаться от условий испытаний по ссы-
1>Подход к квалификации корпусированных СД по результатам испытаний на воздействие внешних
факторов, представленный в настоящем стандарте, основан на аналогичном подходе, разработанном Со
ветом по автомобильной электронике (АЕС — 0 101: Stress test qualification for automotive grade discrete
semiconductors).
15