ГОСТ IEC/TR 62368-2—2014
5.4.2.5.2
Обоснование:
5.4.2.5.4
Обоснование:
5.4.2.6
Обоснование:
5.4.2.7
Источник:
Обоснование:
5.4.2.8
Источник:
Цель:
Обоснование:
Напряжения при переходных процессах в источнике питания постоянного
тока
Перенапряжения при переходных процессах подавляются емкостным фильтром.
Комбинация напряжений при переходных процессах
На величину зазора влияет наибольшее из определенных напряжений при пере
ходных процессах. Одновременное возникновение этих переходных процессов
весьма маловероятно.
Измерение уровней напряжения при переходных процессах
Метод проведения испытания взят из IEC 60950-1:2005. приложение G.
Определение минимальных зазоров
IEC 60664-1:2007, таблица F.2, случай А (неоднородное поле) и случай В (одно
родное поле)
Значения, приведенные в таблицах 18 и 17. взяты из IEC 60664-1:2007. таблица
F.2, случай А (неоднородное поле) и случай В (однородное поле), и включают явно
указанные значения для усиленной изоляции. Зазоры для усиленной изоляции
были рассчитаны согласно требованиям 5.1.6 стандарта IEC 60664-1:2007. Со
гласно требованиям 5.1.6 при определении зазоров для усиленной изоляции сле
дует использовать номинальное импульсное напряжение на одну ступень
выше, если оно входит в ряд предпочтительных напряжений. Если напряжения не
входят в ряд предпочтительных, для определения зазора используют величину,
составля ющую 160 % от требуемого выдерживаемого напряжения для основной
изоляции. При определении требуемого выдерживаемого напряжения согласно
требованиям 5.4.27. допускается использовать интерполяцию, если напряжения
повторяющих ся пиковых импульсов, генерируемых внутри оборудования,
превышают пиковые значения сетевого напряжения или если требуемое
выдерживаемое напряжение выше значений напряжения при переходных
процессах в сети электропитания. Значения для степени загрязнения 4
(загрязнение, при котором возникает устой чивая проводимость) не указаны,
поскольку вероятность возникновения подоб ных условий при эксплуатации
изделий, относящихся к области применения на стоящего стандарта, крайне
мала.
Значения, приведенные в таблице 19 для частот выше 30 кГц. совпадают со зна
чениями таблицы 1 стандарта IEC 60664-4:2005.
Минимальные зазоры, основанные на испытании на электрическую проч
ность
IEC 60664-1:2007, таблица F.5
Испытания проводят с использованием как импульсного напряжения, так и напря
жения переменного тока со значениями, приведенными в таблице 21.
Значения импульсного испытательного напряжения, приведенные в таблице 21,
взяты из IEC 60664-1:2007, таблица F.5. Среднеквадратичные значения напряже
ния переменного тока, а также значения постоянного тока рассчитывают на ос
нове значений, приведенных в таблице А.1 стандарта IEC 60664-1:2007. (Более
подробные разъяснения приведены в таблице 6 настоящего стандарта.)
Данное испытание не подходит для однородных полей. Оно рассчитано на реаль
ную конструкцию, параметры которой укладываются в пределы для однородного
и неоднородного поля.
30