Хорошие продукты и сервисы
Наш Поиск (введите запрос без опечаток)
Наш Поиск по гостам (введите запрос без опечаток)
Поиск
Поиск
Бизнес гороскоп на текущую неделю c 22.12.2025 по 28.12.2025
Открыть шифр замка из трёх цифр с ограничениями

ГОСТ Р 56092-2014; Страница 6

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы ГОСТ 31149-2014 Материалы лакокрасочные. Определение адгезии методом решетчатого надреза (Настоящий стандарт устанавливает метод определения адгезии (устойчивости к отслаиванию) однослойного, многослойного лакокрасочных покрытий и системы покрытий к окрашиваемой поверхности и/или между слоями при решетчатом надрезе (прямоугольная решетка). Надрез должен доходить до окрашиваемой поверхности. Метод предназначен для покрытий, нанесенных на твердые (например, металл) и мягкие (например, древесина, штукатурка) окрашиваемые поверхности. Для различных окрашиваемых поверхностей испытания проводят по разным методикам (раздел 6). Метод не применим при толщине покрытия более 250 мкм и для текстурированных (шероховатых) покрытий. Метод может быть использован по схеме:. - выдерживает испытание/ не выдерживает испытание;. - как испытание (при необходимости), в ходе которого определяют адгезию по шестибальной классификации) ГОСТ 30835-2003 Кожа. Метод испытания устойчивости окраски к поту Leather. Method of test for colour fastness to perspiration (Настоящий стандарт распространяется на кожи для изготовления различных изделий и устанавливает метод испытания устойчивости окраски к поту) ГОСТ 28450-2014 Брусья мостовые деревянные. Технические условия (Настоящий стандарт распространяется на деревянные мостовые брусья, предназначенные для укладки на мостах в железнодорожные пути колеи 1520 мм со скоростями движения поездов не более 200 км/ч, и устанавливает технические требования к ним)
Страница 6
Страница 1 Untitled document
ГОСТ Р 560922014
3.1.15 импульсный источник света (pulsed light source): Источник света, испускающий энергию
в виде одиночного импульса или последовательности импульсов, длительность каждого импульса в
которой не превышает 0.25 с.
Примечания:
1 Источник света, излучающий непрерывную последовательность импульсов или модулированное
излучение, пиковая мощность которого в 10 раз превышает наименьшую мощность, считается импульсным
источником света.
2 Длительность импульса - по ГОСТ 26148-84 (статья 14).
3.1.16
_____________________________________________________________________________________________
энергетическая яркость L* (radiance): Физическая величина, определяемая отношением потока
излучения d2Ф0. переносимого узким пучком с малой площади dA. содержащей рассматриваемую точку,
в малом телесном угле dQ. содержащем направление / и составляющим угол О с нормалью к dA. к
геометрическому фактору d*G этого пучка
с1: Ф<Г’Ф,
_
d3Ф,
d:GdAcosO-dQd A n d Q
и имеющая физический смысл потока излучения, распространяющегося в единичном телесном угле с
площадки единичной площади, нормально расположенной к направлению I.
[ГОСТ 26148-84. статья 26]
________________________________________________________________________
Примечания:
1Интегральная энергетическая яркость L (
Л
.) - по ГОСТ 26148-84 (статья 36).
2 Энергетическая яркость измеряется в ваттах на стерадиан-квадратный метр (Вт^ср-м2)]. интегральная
энергетическая яркость измеряется в джоулях на стерадиан-квадратный метр [Дж/(ср-м*)].
3.1.17
_____________________________________________________________________________________________
энергетическая экспозиция Ha (radiant exposure): Физическая величина, определяемая
интегралом облученности по времени.
[ГОСТ 26148-84, статья 34]
________________________________________________________________________
Примечание -Энергетическая экспозиция измеряется вджоулях на квадратный метр <Дж|’м‘г).
3.1.18 сканирующее лазерное излучение (scanning laser radiation):
Л
азерное излучение,
имеющее изменяющиеся во времени направление, положение начальной точки и картину
распределения относительно неподвижной системы координат.
3.1.19 спектральная облученность Ел(spectral inadiance): Отношение спектральной мощности
излучения с(\) в интервале длин волн dA, падающей на элемент поверхности площадью dA. к
произведению площади этого элемента dA на интервал длин волн dA
£ - <*»«(*)
х dA dk
При меча ние-Спекгральнаяоблученность измеряется в ваттах на метр квадратный-нанометр
(Вт/(м} нм)].
3.1.20 спектральная энергетическая яркость LK [для интервала длин волн dA. в данном
направлении и в некоторой точке] (spectral radiance [for a wavelength interval dA. in a given direction at a
given point]): Отношение спектральной мощности излучения оФе(А), проходящего через некоторую
точку и распространяющегося в пределах телесного угла dQ в данном направлении к произведению
интервала длин волн dA на площадь поперечного сечения пучка плоскостью, перпендикулярной к
этому направлению (COS9d A ), содержащей данную точку, и на телесный угол dQ
dA cos0 •dQ dk
Пр имвча нив- Спектральная энергетическая яркость измеряется в ваттах на стерадиан-квадратный
метр-нанометр [Вт/(ср м’ нм)].
3.2 Обозначения
Бу
к
венные обозначения параметров и единицы их измерения приведены в таблице 1.
3