ГОСТ 32434-2013
._
(xenon)
/^
1
DcellКd?.(act)
7
о
1xenon ^a ct
c A (act)
;
где 1ол- плотность фотонного излучения, в количественном выражении,
при центрированной длине волны А с интервалом 1 нм, ммоль см 2
сут’1,
kcM(ad) - константа скорости реакции прямого фотолиза первого
порядка, сут’1, полученная с применением актинометра, подвергнутого
монохроматическому излучению при длине волны
А;
Фас»— квантовый выход актинометра;
£л(ас<)—молярныйдесятичныйкоэффициентпоглощения
актинометра при длине волны
А,
л моль1см’1;
Dceii - толщина облучаемой кюветы, равная отношению
объема облучаемой кюветы к площади падения излучения, см;
lxenon - длина оптического путив кювете,подвергаемой
монохроматическому облучению, см.
9.4.3Уравнение (8) дает возможность определить плотность
потока фотонов только при одной длине волны, но оно может быть
использовано для определения констант скорости прямого фотолиза
под воздействием монохроматического излученияс применением
одного или нескольких актинометров с низкой оптической плотностью.
Определение плотности потока фотонов при нескольких различных
57