ГОСТ 32434-2013
где
kd- константа скорости реакции прямого фотолиза [сут (d 1)];
Ф - квантовый выход (не зависящий от длины волны);
£Л- молярный десятичный коэффициент поглощения [л моль’1см’
1(Lmol’1cm’1)] при длине волны
А;
10Л - плотность падающего потока фотонов (количественное
выражение)[ммоль см’2 сут’1 (mmolcm’2 d’1)]при центрированной
длине волны;
1- длина пути светового луча [см (cm)] (длина оптического пути);
Dsys - глубина облученной системы [см (cm)], равная отношению
объему облученной системы к площади воздействия падающего
излучения.
П р и м е ч а н и е - Член уравнения!/ Dsys сокращается для прямоугольных
фотолитическихкювет, подвергаемых облучению ксеноновойлампой, для
которых Dsys = DceB. Однако этоне может быть действительнодля
цилиндрическихили любых другихкюветдля фотолиза, подвергаемых
воздействию солнечного облучения, где длина светового пути имеет более
сложную зависимость от глубины (толщины) облученной кюветы (Dce,i). Методы
для определения длины пути светового луча в цилиндрических ячейках,
облучаемыхксеноновой дуговой лампой с фильтрами,приведены в [12], [17].
Длина пути светового луча, определяемая, как функция глубины системы, Dsys,
подвергаемой солнечному облучению, приведена в [12]. [18]. Кроме того, следует
28