ГОСТ Р53734.3.1-2013
(МЭК 61340-3-1:2006)
(1)МЭК 60749-26:2006
IEC 60749-26:2006
Библиография
Приборы полупроводниковые. Методы
механических и климатических испытаний. Часть
26. Испытание чувствительности к
электростатическому разряду. Модель
человеческого тела
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test
methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD)
10