ГОСТ Р53734.3.1-2013
(МЭК 61340-3-1:2006)
Каждый вывод, не являющийся питанием, должен быть отдельно испытан по
отношению к выводам питания или заземления.
При оценке устойчивости образцов, имеющих электрические выводы, должны
быть определена самая слабая комбинация выводов и найден порог отказа для
МЧТ. Таким образом, образцы, у которых небольшое число электрических
выводов, обычно испытывают по МЧТ для всех комбинаций выводов. Если у
образца много электрических выводов, допускается проводитьиспытание
комбинаций группы выводов.
ПрименениеимпульсапоМЧТдляопределенияустойчивости
полупроводниковых приборов к ЭСР приведено в [1].
6.3 Оценка образцов, не имеющих электрических выводов
Если образцом является материал или предмет, у которого нет электрических
выводов (например, упаковка), возможно, необходимо будет приложить импульс
на образец через электроды или с помощью других подходящих средств.
7 Процедура испытаний
Процедураиспытанийдолжнасоответствоватьусловиямприменения
образцов.
П р и м е ч а н и е 1 - Условия при определении устойчивости полупроводниковых приборов к
ЭСР приведены в {1).
Допускается прилагать любой уровень напряжения в качестве испытательного
воздействия. Один импульс обеих полярностей должен прилагаться ко всем
выводам образцов или комбинаций электродов и уровней напряжения.
П р и м е ч а м и е 2 - У некоторых типов образцов могут быть -окна отказов», в которых
возникают отказы не во всем диапазоне приложенных стрессовых уровней напряжения (например,
отсутствие отказа при 500 В, отказ при 1000 В, отсутствие отказа при 1500 В и отказ при
напряжении от 2000 В). Рекомендуется не пропускать стрессовые уровни напряжения, чтобы
определить такие окна отказов.
Допускается использование различных образцов для каждой комбинации
предельных значений и (или) полярности. Допускается использовать одни и те же
образцы для испытаний на более высоких уровнях напряжения при условии, что
все образцы успешно прошли испытания на более низких.
8