ГОСТ Р МЭК 61701— 2013
4.2 Испытания шунтирующего диода на работоспособность
4.2.1 Назначение
В результате испытаний проверяют, сохраняется ли работоспособность шунтирующего диода(ов)
в испытуемых образцах после воздействия солевого тумана.
П р и м е ч а н и е - В тех случаях, когда шунтирующие диоды не применяются или не имеют металлических
частей, данные испытания не проводят.
4.2.2 Приборы
a) Источник постоянного тока, обеспечивающий ток не менее чем в 1.25 раза больший тока ко
роткого замыкания данного образца в стандартных условиях испытаний (СУИ). и средства регистрации
тока, протекающего через образец в период испытаний.
b
) Приборы для измерения падения напряжения на испытуемом образце с точностью не менее ±
0.5 %.
c) Приборы для измерения тока с точностью не менее ±0.5%.
4.2.3 Последовательность испытаний
Испытаний могут проводиться в любых условиях окружающей среды с температурой (25 °С ± 10
°С). Во время испытаний образец не должен подвергаться освещению.
a) Электрически замыкают все установленные на испытуемом образце блокирующие диоды.
b
) Определяют номинальный ток короткого замыкания испытуемого образца при СУИ по завод
ской табличке или спецификациям.
c) С помощью проводов с указанным изготовителем номинальным сечением подключают положи
тельный вывод источника постоянного тока к отрицательному выводу испытуемого образца и отрица
тельный вывод источника постоянного тока к положительному выводу испытуемого образца. Необхо
димо следовать указаниям изготовителя по подсоединению проводов к соединительной коробке. При
такой схеме ток должен протекать через элементы в обратном, а через диоды - в прямом направлении.
П р и м е ч а н и е —В некоторых модулях устанавливаются несколько шунтирующих диодов. В этом случае
источник питания следует подключать так. чтобы ток протекал только через единственный шунтирующий диод.
d) На 1 ч подайте ток. в 1.25 раза больший (± 5%) тока короткого замыкания данного образца в
стандартных условиях испытаний.
4.2.4 Завершающие испытания
После выполнения перечисления d)4.2.3 проверяют работоспособность шунтирующегодиода(ов).
Одним из возможных способов является повторная подача прямого тока через диод(ы) и обратно
го тока через элементы и проверка температуры диода(ов) с помощью инфракрасной камеры. Перед
выполнением этой процедуры необходимо дождаться, когда температура диода установится на уровне
температуры окружающей среды.
Другим методом проверки работоспособности шунтирующего диода является поочередное зате
нение защищаемых каждым диодом солнечных элементов в фотоэлектрическом модуле (одного сол
нечного элемента из каждой последовательной цепочки элементов) и измерение параметров вольт-
амперной характеристики (при энергетической освещенности, близкой к СУИ).
5 Предварительная обработка
Все испытуемые образцы должны проходить предварительную обработку суммарным или пря
мым солнечным светом (естественным или искусственным) согласно требованиям соответствующих
испытаний, установленным в стандарте МЭК для модулей данного типа: в МЭК 61215-для модулей из
кристаллического кремния, в МЭК 61646 - для тонкопленочных модулей, в МЭК 62108 - для модулей
с концентраторами. На момент принятия МЭК 61701:2011. единого метода засветки для модулей, вы
полненных по тонкопленочной технологии, в МЭК 61646 определено не было.
6 Начальные испытания
6.1 В зависимости от технологии изготовления фотоэлектрического модуля требуется провести
следующие начальные измерения выбранных образцов.
6.2 Модули из кристаллического кромния
3