ГОСТ Р МЭК 61701— 2013
МЭК 61215:2005 Модули фотоэлектрические наземные из кристаллического кремния. Оценка
конструкции и утверждение по образцу (IEC 61215:2005. Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV)
modules - Design qualification and type approval)
МЭК 61646:2008 Модули фотоэлектрические тонкопленочные наземные. Требования к конструк
ции и типовым испытаниям (IEC 61646:2008. Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design
qualification and type approval)
МЭК61730-2:2004 Модули фотоэлектрические. Оценка безопасности. Часть 2. Методы испытаний
(IEC 61730-2:2004. Photovoltaic (PV) module safety qualification. Part 2: Requirements for testing)
МЭК 62108:2007 Фотоэлектрические модули и сборки с концентраторами. Методы испытаний
(IEC 62108:2007. Concentrator photovoltaic (CPV) modules and assemblies - Design qualification and type
approval)
ИСОУМЭК 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лаборато
рий (ISO/IEC 17025. General requirements for the competence of testing and calibration laboratories)
3 Выбор образцов
Всем процедурам испытаний должны быть подвергнуты три одинаковых образца фотоэлектриче
ского модуляданного типа (из кристаллического кремния, тонкопленочные, с концентраторами) или три
одинаковых образца сборки модулей с концентраторами.
В случае фотоэлектрических модулей с концентраторами возможны различные варианты выбора
образцов для испытаний. Для фотоэлектрических систем или модулей с концентраторами с нерегули
руемым при эксплуатации фокусом требуется три образца для выполнения показанной на Рисунке 3
испытательной процедуры. Для фотоэлектрических систем или сборок с концентраторами с регулиру
емым при эксплуатации фокусом требуется три приемника (включая три вторичных оптических секции,
если необходимо) и три первичных оптических секции. Полное описание различных типов и компонен
тов фотоэлектрических модулей или сборок с концентраторами приведено в МЭК 62108.
В тех случаях, когда образцы из-за больших размеров невозможно поместить в необходимую
для проведения испытаний климатическую камеру, допускается применение меньшего образца, специ
ально разработанного и изготовленного для проведения этих испытаний. Такой замещающий образец
требует тщательного проектирования, с тем чтобы он проявлял те же механизмы отказа, что и полно
размерный. технология изготовления такого образца должна быть также максимально приближенной к
технологии изготовления полноразмерного образца. Тот факт, что в испытаниях использовался заме
щающий. а не полноразмерный образец, должен быть отражен в протоколе испытаний в соответствии с
перечисления д) раздела 11.
Если в модуле применено заземление, оно должно быть частью испытуемых образцов.
4 Методика испытаний
4.1 Порядок испытаний
Выбранные образцы проходят испытания, указанные на рисунках 1, 2 или 3, в соответствии с
технологией изготовления фотоэлектрического модуля: из кристаллического кремния, тонкопленочные
или с концентраторами. Как указано на рисунках 1-3, один из образцов используется для контроля. Из
мерения на контрольном образце проводятся одновременно с измерениями на испытуемых образцах
для проверки влияния солевого тумана на характеристики испытуемых образцов.
Описания всех приведенных на рисунках 1, 2 или 3 испытаний (включая назначение, испытатель
ное оборудование, процедуру и требования), за исключением испытаний шунтирующего диода, изло
жены в тех стандартах МЭК. из которых взяты эти конкретные испытания (см. примечания на
рисунках). Испытание шунтирующего диода(ов) на сохранение работоспособности установлено в 4.2
настоящего стандарта.
Указанные на рисунках 1. 2 или 3 испытания должны быть проведены в определенном порядке.
В случае фотоэлектрических модулей с концентраторами, когда некоторые из описанных в настоящем
стандарте процедур неприменимы для данной конструкции, изготовитель должен обсудить с испыта
тельной организацией возможность разработки сходной программы испытаний, основанной на изло
женных в настоящем стандарте положениях. Любые изменения или отклонения от изложенных
про цедур должны быть зарегистрированы и подробно отражены в протоколе испытаний, как того
требует перечислении I) раздела 12.
2