ГОСТ Р МЭК 60904-1—2013
- спектральное распределение энергетической освещенности с помощью спектрорадиометра
(еслиспектральнаячувствительность эталонного приборане соответствует спектральной
чувствительности испытываемого образца):
- если эталонный прибор остался в зоне измерений, ток короткого замыкания и температуру
эталонного прибора, если необходимо.
Если установка оснащена датчиком энергетической освещенности, его следует использовать
для проверки того, что энергетическая освещенность рабочих поверхностей образца и эталонного
прибора одинакова.
Перед каждым измерением точки ВАХ температура испытываемого образца также должна быть
приведена к равновесной в пределах ± 1 °С. если это необходимо.
6.7Если температура испытываемого образца в момент измерения отличается от требуемой,
приведите измеренную ВАХ к этой температуре, используя МЭК 60891. Для нелинейных приборов
диапазон, в котором прибор может рассматриваться как линейный, определяется в соответствии с
МЭК 60904-10.
П р и м е ч а н и я :
1 Любое случайное отклонение распределения энергетической освещенности сборки элементов или
модуля от однородного может повлиять на итоговую ВАХ образца. Это влияние определяется следующими
факторами: шунтирующими диодами в соединениях модуля, обратными ВАХ. характерными для каждого типа
элементов, и распределением энергетической освещенности в зоне испытания. Все влияния неоднородности
следует тщательно изучить и учесть при анализе погрешности.
2 Если в качестве эталонного прибора используется модуль, следует произвести тщательную оценку того,
какой параметр необходимо выбрать в качестве параметра для настройки энергетической освещенности
имитатора: ток короткого замыкания или максимальную мощность. Метод настройки по току короткого замыкания
почти независим от температуры модуля и технологии выполнения соединений в модуле, но может вносить
погрешности вследствие неоднородности освещения. Метод настройки по максимальной мощности может
сгладить неоднородность распределения энергетической освещенности,но может внести ошибки,
обусловленные температурой модуля и технологией выполнения соединений в модуле. Наиболее
точные результаты достигаются, когда уровень энергетической освещенности обеспечивается
одновременным достижением калибровочных значений обоих параметров: тока короткого замыкания и
максимальной мощности эталонного модуля.
3 В тех случаях, когда пространственное распределение энергетической освещенности в активной зоне
измерений неизвестно, и в качестве эталонного прибора используется эталонный элемент, результаты
измерения испытываемого образца могут измениться, если меняется положение эталонного элемента в
активной зоне испытания. Влияние неоднородности может быть ослаблено, если в качестве эталонного прибора
используется откалиброванный эталонный модуль с размером, близким к размеру испытываемого образца.
4 На напряжение холостого хода или коэффициент заполнения ВАХ может влиять спектральный состав
энергетической освещенности от источника света. При необходимости это влияние следует проанализировать и
учесть, сравнивая полученные результаты с результатами измерений, выполненными при естественном
солнечном освещении.
7 Испытания при импульсном искусственном солнечном освещении
Условия измерения ВАХ фотоэлектрических приборов при импульсном искусственном
солнечном освещении должныудовлетворять требованиямМЭК60904-9.Распределение
энергетической освещенности в плоскости измерений может быть неоднородным. Степень
однородности распределения энергетической освещенности в активной зоне плоскости измерений
имитатора должна быть известна и периодически проверяться. Точность измерений необходимо
периодически поверять с помощью последовательных измерений в одних и тех же условиях
испытаний.
П р и м е ч а н и е - Используются два типа импульсных имитаторов: системы с продолжительным
импульсом с длительностью импульса до 1 с и измерением ВАХ в течение одной вспышки и короткоимлульсные
системы, использующие стробоскопный тип ламп с длительностью импульса менее 1 мс. за одну вспышку
измеряется одна точка ВАХ. Короткоимпульсные имитаторы не должны использоваться для точных измерений
фотоэлектрических приборов с большой емкостью
Для калибровки применяются три метода. Если испытываемый образец имеет такие же
размеры рабочей поверхности, как и эталонный, используется метод А. Если размеры испытуемого
образца больше размеров эталонного прибора, используется метод В. Если размеры испытуемого
образца меньше размеров эталонного прибора, используется метод С. Методы В и С основаны на
определенииэффективнойэнергетическойосвещенности.Эффективнойэнергетической
7