ГОСТ Р МЭК 60904-1— 2013
d) Датчик энергетической освещенности, способный отслеживать мгновенную энергетическую
освещенность в плоскости измерений имитатора. Датчик должен быть линейным в диапазоне
энергетической освещенности, в котором проводятся измерения {см. МЭК 60904-10).
e)Спектрорадиометр,обеспечивающийизмерениеспектральногораспределения
энергетическойосвещенности имитаторав диапазонах спектральной чувствительности
испытываемого образца и эталонного прибора, если необходимы поправки на несовпадение их
спектральных характеристик в соответствии с перечислении а) раздела 3.
П р и м е ч а н и е - Эмиссионные пампы типа ксеноновых следует применять с осторожностью при
испытаниях модупей из однопереходных и многопереходных прямозонных структур. Изменение ширины
запрещенной зоны структуры (эпемента структуры), сбусловпенное изменением температуры, может привести к
пропусканию элементом (элементами) структуры некоторых эмиссионных линий лампы и к значительным
сдвигам в рабочих характеристиках. Для многопереходных прямозонных структур эти изменения ширины
запрещенной зоны могут также изменить баланс токов отдельных элементов структуры, и привести к
дополнительным сдвигам в рабочих характеристиках.
5 Испытания при естественном солнечном освещении
Измерения при естественном солнечном освещении следует проводить только при условии, что
колебания суммарной энергетической освещенности во время измерений составляют не более ±1 %.
Скорость ветра не превышает 2 м/сек. Для измерений, результаты которых подлежат приведению к
стандартным условиям испытаний (СУИ), значение энергетической освещенности должно быть не
менее 800 Вт/м2.
Метод испытаний
5.1 Установите эталонный прибор и испытываемый образец на двухосевом следящем
устройстве как можно ближе друг к другу таким образом, чтобы рабочие поверхности эталонного
прибора и испытываемого образца были компланарны. Рабочие поверхности обоих приборов должны
быть перпендикулярны прямым солнечным лучам в пределах угла падения ±5°. Подключите
необходимое измерительное оборудование.
П р и м е ч а н и е - Для уменьшения влияния изменений спектрального распределения энергетической
освещенности описанные ниже измерения следует производить настолько быстро, насколько это возможно в
пределах нескольких часов одного дня. Если это невыполнимо, спедует вводить спектральные поправки.
5.2 Если испытываемый модуль и эталонный прибор снабжены средствами регулирования
температуры, установите требуемое значение температуры.
Если такое регулирование температуры не может быть использовано, то:
5.2.1 Защитите испытываемый образец и эталонный прибор от солнца и ветра, дождитесь, когда
температура образца и эталонного прибора установятся на уровне температуры окружающей среды с
отклонением в пределах ±2 °С, или,
5.2.2 Дождитесь,покатемпературыиспытываемого образцаи эталонного прибора
стабилизируются, или,
5.2.3 Создайте условия, при которых температуры испытываемого образца и эталонного
прибора станут ниже требуемого значения, после чего дайте им нагреться до требуемого значения
температуры естественным путем.
П р и м е ч а н и е - В процессе нагрева средняя температура элемента может отличаться от средней
температуры тыльной поверхности модуля. В этом случае может быть использован метод определения
температуры, установленный в МЭК 60904-5.
5.3 После того, как температура достигнет требуемого значения, удалите защитный экран (если
он используется) и в течение минимально возможного времени измерьте ВАХ и температуру
испытываемого образца, ток короткого замыкания и, если требуется, температуру эталонного
прибора, спектральное распределение энергетической освещенности с помощью спектрорадиометра
(если эталонный прибор не используется или его спектральная чувствительность не соответствует
спектральной чувствительности испытываемого образца, см. 5.6).
П р и м е ч а н и е - В большинстве случаев тепловая инерция образца и эталонного прибора в течение
нескольких секунд не позволит температуре подняться более чем на 2 °С. Их температуры будут оставаться в
достаточной степени одинаковыми.
4