ГОСТ Р МЭК 61904-10-2013
5.2 Испытания с использованием имитатора солнечного излучения
Условия измерения рабочих характеристик фотоэлектрических приборов при постоянном
искусственномсолнечномосвещении должныудовлетворять требованиямМЭК 60904-9.
Распределение энергетической освещенности в плоскости измерений может быть неоднородным.
Степень однородности распределения светового потока в активной зоне плоскости измерений
имитатора должна быть известна и периодически проверяться (см. МЭК 60904-1).
Примечания:
1До проведения испытаний следует провести оценку эмиссионных ламп типа ксеноновых, с помощью
которых будут проводиться испытаний. При испытаниях образцов из однопереходных и многопереходных
прямозонных структур изменение ширины запрещенной зоны структуры (элемента структуры), обусловленное
изменением температуры, может привести к пропусканию элементом (элементами) структуры некоторых
эмиссионных линий лампы, что приведет к значительным сдвигам в рабочих характеристиках. Для
многопереходных прямозонных структур эти изменения ширины запрещенной зоны могут также изменить
баланс токов отдельных элементов структуры, что приведет к дополнительным сдвигам в рабочих
характеристиках. На основании линейности спектрального отклика испытываемого образца и спектра лампы
влияние такого эффекта можно учесть с помощью коррекции изменений температуры.
2 Для многопереходных прямозонных структур кактак и FF являются нелинейными функциями
спектрального распределения энергетической освещенности от имитаторов. При измерении таких структур с
применением имитаторов солнечного излучения без настройки спектра могут возникнуть значительные ошибки,
обусловленные нарушением баланса токов отдельных элементов, образующих структуру. Так, при измерении
тока и напряжения коммерческих модулей на основе многопереходных структур с применением имитатора
класса ААА были отмечены ошибки измерения более 15 %.
5.2.1 Установите эталонный прибор и испытываемый образец в плоскости измерений имитатора
как можно ближе друг к другу таким образом, чтобы рабочие поверхности эталонного прибора и
испытываемого образца были компланарны и перпендикулярны центральной линии пучка излучения
с отклонением в пределах угла падения
±
2°. Подключите необходимое измерительное оборудование.
5.2.2 Если испытываемый образец и эталонный прибор снабжены средствами регулирования
температуры, установите требуемое значение температуры. Если такое регулирование температуры не
может быть использовано, дождитесь, когда температура испытываемого образца и эталонного
прибора установятся на уровне температуры окружающей среды с отклонением в пределах
±
1 °С.
Перед каждым циклом измерений 5.2.4 - 5.2.9 температура эталонного прибора также должна
быть приведена к равновесной в пределах
±
1 °С.
5.2.3 После того как температура достигнет требуемого значения настройте имитатор с
помощью эталонного прибора. Эталонный прибор должен создавать калибровочное значение тока
короткого замыкания или/и максимальной мощности, соответствующее верхней границе требуемого
диапазона энергетической освещенности.
5.2.4 Приведите температуру к равновесной, как указано в 5.2.2. и после того, как температура
достигнет требуемого значения, не меняя установок имитатора, удалите защитный экран (если он
используется) и в течение минимально возможного времени измерьте:
значение изменяемого параметра условий испытаний X, или параметра, его определяющего;
значение параметра испытываемого образца У,;
значения температуры и тока короткого замыкания эталонного прибора Т, и /«>;
спектральное распределение энергетической освещенности с помощью спектрорадиометра
(если эталонный прибор не используется или его спектральная чувствительность не соответствует
спектральной чувствительности испытываемого образца).
5.2.5 Энергетическая освещенность Е определяется по измеренному значению тока короткого
замыкания эталонного прибора 1К,3 и его калибровочному значению при стандартных условиях
испытаний /оаСуи • Если температура эталонного прибора во время измерений
Т
з отличается от
температуры, при которой проводилась его калибровка, в уравнение для определения Е вводится
поправка с использованием температурного коэффициента по току для эталонного прибора х» (1ГС).
Расчет проводят по формуле
Е =
E-fn E lM 2 [ 1
_
* ;э( Т э - Т эСу И )).
(3)
где Г, - температура эталонного прибора во время измерений;
6