ГОСТ IEC 60825-1-2013
изготовителем лазерной аппаратура и который вызывает максимальную
эмиссию доступного излучения аппаратуры;
d) в точках пространства, к которым возможен доступ персонала во
время функционирования для проведения измерений уровней доступной
эмиссии (например, если при функционировании может потребоваться
удаление частей защитного кожуха и отключение защитной блокировки,
измерения следует проводить в точках, доступных для данной конструкции
аппаратуры);
e)детекторизмерительногоприборадолженрасполагатьсяи
ориентироваться таким образом, чтобы детектировать излучениев
максимальной степени;
f)Должны быть созданы необходимые условия для избегания или
устранения влияния сопутствующего излучения при измерении;
д) классы 1 и 1М
Класс 1 применяют в диапазоне длин волн от 180 нм до 1 мм. Класс
1М применяют в диапазоне длин волн от 302,5 до 4000 нм. Для
определения доступной эмиссии применяют условия 1, 2 и 3 (см. таблицу
11
)
.
Для диапазона длин волн от 302,5 до 4000 нм, если доступная
эмиссия менее ПДЭ класса 1 при условиях 1, 2 и 3, лазерную аппаратуру
относят к классу 1.
Если доступная эмиссия:
- более чем ПДЭ класса 1 при условии 1 или 2 и
74