ГОСТ Р МЭК 60904-8— 2013
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы ЙС Т А Н Д А Р ТР О С С И Й С К О ЙФ Е Д Е Р А Ц И И
Государственная система обеспечения единства измерений
ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ.
Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов
Stale system lor ensuring the uniformity o! measurements.
Photovoltaicdevices. Part 8.
Measurement ol spectral response ot aphotovoltac device
Дата введения — 2015— 07— 01
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает требования к измерениям относительной спектральной чув
ствительности линейных и нелинейных фотоэлектрических приборов. Настоящий стандарт распро
страняется только на однопереходные фотоэлектрические приборы.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
МЭК 60904-1: 1987 Приборы фотоэлектрические. Часть 1: Измерение вольт -амперных характе
ристик фотоэлектрических приборов
МЭК 60904-2: 1989 Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным
элементам
МЭК 60904-3: 1989 Фотоэлектрические приборы. Часть 3: Измерение характеристик фотоэлек
трических приборов с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности на
земного солнечного излучения
МЭК 61646: 1996 Модули фотоэлектрические тонкопленочные для
наземного применения. Квалификационная оценка конструкции и утверж •
дение типа
3 Специальные требования к тонкопленочным приборам
3.1 Предварительная оценка стабильности
Перед измерениями спектральных характеристик фотоэлектрических тонкопленочных приборов,
приборы стабилизируют с использованием процедуры тестовой засветки (смотри МЭК 61646).
3.2 Измерения под белым смещающим излучением
Измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических тонкопленочных приборов про
водят под белым смещающим излучением, с относительным спектральным распределением излуче
ния близким к AM 1,5. Уровень интенсивности излучения подбирают таким образом, чтобы спек
тральная чувствительность значительно не изменялась при уменьшении смещающего излучения на 50
%.
3.3 Эффект напряжения
Применяют следующие термины:
спектральная чувствительность под нагрузкой (StfA): Плотность тока при определенном на
пряжении нагрузки, созданная единицей освещенности на данной длине волн А-Вт как функция
длины волны;
относительная спектральная чувствительность под нагрузкой,
k
,
S
v
\:
Спектральная чувст
вительность под нагрузкой как функция длины волны, отнесенная ксвоему максимальному значению
к\
S vA=SvA/Si,,vmai.(1)
Спектральную чувствительность фотоэлектрических тонкопленочных приборов измеряют при
эксплуатационном напряжении нагрузки, что отражают в документации.
Издание официальное
1