ГОСТ Р МЭК 60247-2013; Страница 3

или поделиться

Ещё ГОСТы из 41757, используйте поиск в верху страницы

ГОСТ Р ИСО 1580-2013 Винты с плоской головкой со шлицем. Класс точности А (Настоящий стандарт устанавливает характеристики винтов с плоской головкой со шлицем класса точности А с резьбой от М1,6 до М10 включительно. В случаях, когда необходимы характеристики, отличающиеся от установленных в настоящем стандарте, они могут быть выбраны из действующих международных стандартов, например ИСО 261, ИСО 888, ИСО 898-1, ИСО 965-2 и ИСО 3506-1) ГОСТ Р 55416-2013 Нанотехнологии. Часть 1. Основные термины и определения (Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения основных понятий в области нанотехнологий. Настоящий стандарт предназначен для обеспечения взаимопонимания между организациями и отдельными специалистами, осуществляющими свою деятельность в области нанотехнологий) ГОСТ Р 55417-2013 Нанотехнологии. Часть 3. Нанообъекты углеродные. Термины и определения (Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к углеродным нанообъектам. Настоящий стандарт предназначен для обеспечения взаимопонимания между организациями и отдельными специалистами, осуществляющими свою деятельность в области нанотехнологий)

Страница 3

Страница 1

Untitled document

ГОСТ Р МЭК 60247—2013

Содержание

1 Область применения..........................................................................................................................................1

2 Нормативные ссылки........................................................................................................................................1

3 Термины и определения..................................................................................................................................2

4 Общие положения............................................................................ 2

4.1 Диэлектрическая проницаемость и тангенсугла диэлектрических потерь (tg 6 ) .............................2

4.2 Удельное сопротивление..........................................................................................................................3

4.3 Последовательность измерений...............................................................................................................3

4.4 Факторы, приводящие к ошибочным результатам.................................................................................3

5 Аппаратура..........., ..........................................................................................................................................3

5.1 Испытательная камера. .............................................................................................................................3

5.2 Испытательное оборудование..................................................................................................................9

5.3 Стеклянная посуда.....................................................................................................................................9

5.4 Прибордля измерения диэлектрической проницаемости и tg 6 ........................................................ 9

5.5 Прибордля измерения удельного сопротивления при постоянном токе...........................................9

5.6 Устройства измерения времени...............................................................................................................9

5.7 Безопасность............................................................................................................................................... 9

6 Очищающий растворитель.............................................................................................................................10

7 Очистка испытательной камеры.................................................................................................................... 10

7.1 Процедура очистки тринатрийфосфатом............................................................................................10

7.2 Хранение камер........................................................................................................................................10

8 Отбор проб........................................................................................................................................................11

9 Подготовка проб................................................................................................................................................11

10 Кондиционирование и заполнение испытательной камеры................................................................. 11

10.1 Кондиционирование камеры..................................................................................................................11

10.2 Заполнение камеры............................................................................................................................... 11

11 Температура испытаний.............................................................................................................................12

12 Измерение тангенса угладиэлектрическихпотерь (tg й ).......................................................................12

12.1 Испытательное напряжение..................................................................................................................12

12.2 Измерения................................................................................................................................................12

12.3 Отчет........................................................................................................................................................12

13 Измерение относительной диэлектрической проницаемости...............................................................12

13.1 Измерения................................................................................................................................................12

13.2 Отчет........................................................................................................................................................13

14 Измерение удельного сопротивления при постоянном токе................................................................. 13

14.1 Испытательное напряжение..................................................................................................................13

14.2 Время электризации............................................................................................................................... 13

14.3 Измерения................................................................................................................................................13

14.4 Отчет........................................................................................................................................................14

Приложение А (справочное) Пример альтернативной процедуры очистки испытательной камеры.

Ультразвуковой метод............................................................................................................15

Приложение В (справочное) Пример упрощенной процедуры очистки испытательной камеры...........15

Приложение С (справочное) Альтернативные процедуры обычных измерений тангенса угла

диэлектрическихпотерь иудельного сопротивления изоляционных жидкостей . . . . 16

ПриложениеДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов

национальным стандартам Российской Федерации (и действующим в этом качестве

межгосударственным стандартам).........................................................................................18