7
r - радиус окружности, описываемой фрезой, определяемый штангенциркулем, мм.
2.4.9. Параметр Sz определяют по характерным неровностям для данного материала и способа обработки. Измерения производят на выбранном в соответствии с п. 2.4.1 участке профилограммы следующим образом. Измеряют линейкой шаги неровностей по впадинам Szkij в миллиметрах (см. черт. 4). Параметр (Szij) в миллиметрах вычисляют по формуле
(10)
где k - номер шага неровностей на участке;
М - число шагов неровностей по впадинам на участке;
Vh - горизонтальное увеличение профилографа.
Результаты измерений и расчетов заносят в журнал наблюдений (приложение 2).
2.4.10. Среднее значение параметра (Sz) в миллиметрах для контролируемой поверхности вычисляют по формуле
(11)
где n - количество образцов;
m - количество участков отсчета, выбранных на образце.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
2.4.11. При проведении научно-исследовательских работ или поверке образцов шероховатости отклонения параметров Rm, Rz, Sz от средних значений Δ(Rm), Δ(Rz) и Δ(Sz) определяют в соответствии с приложением 7.
2.5. При применении профилометров с автоматическим расчетом параметров Rm и Rz операции по п. 2.4 не выполняют; за результат принимают показания профилометра.
(Введен дополнительно, Изм. № 1).
3. МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРА Ra
3.1. Аппаратура
Профилометры по ГОСТ 19300-86, позволяющие выполнять измерения неровностей от 10 до 1000 мкм.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
3.2. Подготовка к измерениям
3.2.1. Размеры образцов должны быть выбраны в соответствии с п. 2.2.2. Количество участков, на которых должны быть выполнены измерения, а также направление перемещения датчика определяют в соответствии с пп. 2.2.3, 2.2.5-2.2.7.
3.2.2. Числовое значение базовой длины выбирают по ГОСТ 7016-82. Отсечку шага устанавливают равной базовой длине.
3.3. Проведение измерений
Отсчет значений параметра производят по шкале показывающего прибора. Результаты отсчета значения параметра Raij заносят в журнал (приложение 6).
3.4. Обработка результатов
3.4.1. Среднее значение параметра (Ra) в микрометрах для контролируемой поверхности вычисляют по формуле
(12)
где n - количество образцов;
m - количество участков отсчета, выбранных на образце.
3.4.2. При проведении научно-исследовательских работ или поверке образцов