5
Черт. 3
(Измененная редакция, Изм. № 1).
2.4.3. Параметр шероховатости (Rmij) в микрометрах по каждому из участков отсчета профилограммы вычисляют по формуле
(5)
где Хij - расстояние между линиями выступов и впадин, измеренное металлической линейкой, мм;
Vν - вертикальное увеличение профилографа;
i - номер участка измерения на образце;
j - номер образца.
2.4.4. Среднее значение параметра шероховатости (Rm) в микрометрах для контролируемой поверхности вычисляют по формуле
(6)
где n - количество образцов;
m - количество участков отсчета, выбранных на образце.
2.4.5. Для определения параметра Rz на каждом участке отсчета проводят базовую линию параллельно общему направлению перемещения диаграммной ленты, эквидистантной средней линии, и не пересекающую профиль (черт. 4).