ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011
ИСО/МЭК 7816-3:2006 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах. Часть 3.
Электронный интерфейс и протоколы передачи (ISO/IEC 7816-3.2006, Identification cards — Integrated
circuit cards — Part 3: Cards with contacts — Electrical interface and transmission protocols)
ИСО/МЭК 7816-4:2005 Карты идентификационные. Карты на интегральных схемах. Часть 4.
Организация, защита и межотраслевые команды для обмена (ISO/IEC 7816-4:2005. Identification
cards — Integrated circuit cards — Part 4: Organization, security and commands for interchange)
3 Термины и определения
В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
3.1 карта (card): Карта на интегральной схеме с контактами, как определено в ИСО/МЭК 7816. 3.2
DUT (device under test): Карта или IFD. подвергающиеся испытанию.
3.3 фактор-etu (etu-factor): Параметры, предусмотренные выбором протокола и параметров
(PPS), описанные в ИСО/МЭК 7816-3,6.3.1
3.4 IFD (interface device): Устройство сопряжения для карт на интегральных схемах с контактами
согласно определению ИСО/МЭК 7816-3.
3.5 нормальное применение (normal use): Применение карты в качестве идентификационной,
какопределено ИСО/МЭК 7810:2003.4.1, включая использование в машинных процессах, соответству
ющих технологии хранения информации, реализованной в данной карте, и хранение карты как личного
документа в промежутках между машинными процессами.
3.6 метод испытаний (test method): Метод проверки характеристик идентификационных карт и
связанных с ними устройств сопряжения с целью подтверждения их соответствия международным
стандартам.
3.7 сценарий испытаний (test scenario): Определенный типовой протокол и коммуникации, спе
цифичные для приложения, используемые в методах испытаний, установленных в настоящем стан
дарте.
3.8 типовой протокол и коммуникации, специфичные для приложения (typical protocol and
application specific communication): Коммуникации между испытываемым устройством DUT и соответ
ствующим испытательным оборудованием, основанные на протоколе и приложении, выполняемом в
DUT. и представляющие его нормальное применение.
4 Общие понятия, относящиеся к методам испытаний
4.1 Внешние условия при испытаниях
Испытания физических, электрических и логических характеристик карт проводят при температу
ре окружающей среды 23 “Сi 3 °С. относительной влажности 40 % — 60 %, если не определено иное.
4.2 Предварительное кондиционирование
Если метод испытаний требует проведения предварительного кондиционирования, испытуемые
идентификационные карты выдерживаютдо начала испытания в нормальных климатических условиях в
течение 24 ч, если не установлено иное.
4.3 Выбор метода испытаний
Определенный метод испытаний должен применяться в соответствии с требованиями для про
верки характеристик карт, установленных в соответствующем базовом стандарте.
4.4 Допускаемые отклонения
Отклонения значений характеристик испытательного оборудования (например, линейных разме
ров) и параметров испытательных режимов (например, параметров настройки испытательного обору
дования) от указанных в стандарте значений не должны превышать ± 5 %, если не оговорены
другие допускаемые отклонения.
4.5 Суммарная погрешность измерения
Суммарная погрешность измерения по каждой величине, определяемой данным методом испы
таний. должна быть указана в протоколе испытаний.
2